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2兆位的SPI串行闪存
SST25LF020A
数据表
表10 ：可靠性特性
符号
N
END1
T
DR1
I
LTH
1
参数
耐力
数据保留
闭锁
最小规格
10,000
100
100 + I
DD
单位
周期
岁月
mA
测试方法
JEDEC标准A117
JEDEC标准A103
JEDEC标准78
T10.0 1242
1.该参数仅在初步认证和设计或工艺变更可能影响该参数进行测量。
表11 ：交流工作特性V
DD
= 3.0-3.6V
范围
20兆赫
符号
F
CLK
T
SCKH
T
SCKL
T
CES1
T
CEH1
T
CHS1
T
CHH1
T
CPH
T
CHZ
T
CLZ
T
DS
T
DH
T
HLS
T
HHS
T
HLH
T
HHH
T
HZ
T
LZ
T
OH
T
V
T
SE
T
BE
T
SCE
T
BP
参数
串行时钟频率
串行时钟高电平时间
串行时钟低电平时间
CE＃智能安装时间
CE＃有效保持时间
CE＃不主动设置时间
CE＃不主动保持时间
CE＃高电平时间
CE＃高到高阻输出
SCK低到低Z输出
数据建立时间
数据保持时间
HOLD ＃低建立时间
HOLD ＃高建立时间
HOLD ＃低保持时间
HOLD ＃高保持时间
HOLD ＃低到输出高阻态
HOLD ＃高至低阻抗输出
从SCK变化输出保持
输出有效期从SCK
扇区擦除
块擦除
芯片擦除
字节编程
0
20
25
25
100
20
0
5
5
10
10
15
10
20
20
0
12
25
25
100
20
20
20
20
20
10
10
100
20
0
3
3
10
10
10
10
14
14
民
最大
20
13
13
12
12
10
10
100
14
民
33兆赫
最大
33
单位
兆赫
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ms
ms
ms
s
T11.0 1242
1.相对于SCK 。
2010硅存储技术公司
S71242-07-000
01/10
19
