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64兆位的SPI串行双I / O闪存
SST25VF064C
数据表
表12 :可靠性特性
符号
N
END1
T
DR1
I
LTH
1
参数
耐力
数据保留
闭锁
最小规格
10,000
100
100 + I
DD
单位
周期
岁月
mA
测试方法
JEDEC标准A117
JEDEC标准A103
JEDEC标准78
T12.0 1392
1.该参数仅在初步认证和设计或工艺变更可能影响该参数进行测量。
表13 : AC运行特性
33兆赫
符号
F
CLK1
T
SCKH
T
SCKL
T
SCKR
T
sckf
T
CES3
T
CEH3
T
CHS3
T
CHH3
T
CPH
T
CHZ4
T
CLZ
T
DS
T
DH
T
HLS
T
HHS
T
HLH
T
HHH
T
HZ
4
2
50兆赫
9
9
0.1
0.1
5
5
5
5
50
7
7
0
3
5
5
5
5
5
7
7
7
7
0
最大
50
75/80 MHz的
6
6
0.1
0.1
5
5
5
5
50
7
0
2
4
5
5
5
5
7
7
0
6
25
25
50
2.5
1.0
最大
75/80
单位
兆赫
ns
ns
V / ns的
V / ns的
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ms
ms
ms
ms
ms
T13.1 1392
参数
串行时钟频率高速读取
串行时钟高电平时间
串行时钟低电平时间
串行时钟上升时间(转换率)
串行时钟下降时间(转换率)
CE#智能安装时间
CE#有效保持时间
CE#不主动设置时间
CE#不主动保持时间
CE#高电平时间
CE#高到高阻输出
SCK低到低Z输出
数据建立时间
数据保持时间
HOLD #低建立时间
HOLD #高建立时间
HOLD #低保持时间
HOLD #高保持时间
HOLD #低到输出高阻态
HOLD #高至低阻抗输出
从SCK变化输出保持
输出有效期从SCK
扇区擦除
块擦除
芯片擦除
页面-计划
程序安全ID
13
13
0.1
0.1
5
5
5
5
50
0
3
5
5
5
5
5
最大
33
T
LZ4
T
OH
T
V
T
SE
T
BE
T
SCE
T
PP
T
PSID
0
15
25
25
50
2.5
1.0
10
25
25
50
2.5
1.0
1.最大时钟频率读取指令, 03H , 33兆赫
最大时钟频率快速读取双输出( 3BH )为75兆赫
最大时钟频率快速读取双I / O( BBH )为50兆赫
最大时钟频率为高速读取, OBH ,为80兆赫
最大时钟频率为双输入页编程, A2H ,为50兆赫
2.最大上升和下降时间可被T的限制
SCKH
和T
SCKL
需求
3.相对于SCK 。
4.不100 %生产测试。
2010硅存储技术公司
S71392-04-000
04/10
24

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