ISL12022M
I
2
C接口规范
测试条件： V
DD
= +2.7至+ 5.5V ，温度= -40 ° C至+ 85°C ，
除非另有规定ED 。
（续）
符号
t
苏： STO
参数
停止条件的建立时间
测试条件
从SCL上升沿
穿越的V 70 ％
DD
到SDA
上升沿交叉的30 ％
V
DD
.
从SDA上升沿
SCL下降沿。两
穿越的V 70 ％
DD
.
从SCL下降沿
穿越的V 30 ％
DD
直到
SDA进入30 ％至70％
V的
DD
窗口。
从30％到V的70％
DD.
从70％到V的30％
DD.
民
（注10 ）
600
典型值
（注6 ）
最大
（注10 ）单位
ns
笔记
t
高清： STO
停止条件保持时间
600
ns
t
DH
输出数据保持时间
0
ns
t
R
t
F
Cb
R
PU
SDA和SCL上升时间
SDA和SCL下降时间
20 + 0.1× Cb的
20 + 0.1× Cb的
10
1
300
300
400
ns
ns
pF
kΩ
8, 9
8, 9
8, 9
8, 9
电容式SDA或SCL总片上和片外的装载
SDA和SCL总线上拉电阻最大值由下式确定
片
t
R
和T
F
.
用于CB = 400pF时，最大的约
2kΩ~2.5kΩ.
用于CB = 40pF ，最大约为
15kΩ~20kΩ
注意事项：
3.温度转换是无效的低于V
BAT
= 2.7V 。设备操作不能保证在V
BAT
<1.8V.
4. IRQ /女
OUT
无效。
5. V
DD
＆ GT ; V
BAT
+V
BATHYS
6.指定在+ 25°C 。
7.为了确保适当的计时，在V
SR- DD
规范必须遵守。
8.限制应被视为典型的和不生产测试。
9.这是我
2
具体参数，未经测试，但是，它们是用来设置用于测试设备来验证条件
特定连接的阳离子。
10.参数与MIN和/或最大极限100％经过测试，在+ 25 ° C，除非另有规定。温度限制成立
表征和不生产测试。
5
FN6668.4
2008年12月18日
