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ISL12027 ， ISL12027A
串行接口（I
2
C）规格
（续）
符号
t
SU ： STA
t
高清： STA
参数
开始条件建立时间
START条件保持时间
条件
SCL上升沿到SDA下降沿。
两个过路的V 70 ％
DD
.
从SDA下降沿穿越30 ％
V的
DD
到SCL下降沿穿越
V 70 ％
DD
.
从SDA退出的30％至70％
V
DD
窗口，以SCL上升沿
穿越的V 30 ％
DD
.
从SCL下降沿穿越70 ％
V
DD
到的SDA进入30 ％至70％
V的
DD
窗口。
从SCL上升沿跨越70 ％
V
DD
到SDA上升沿穿越30 ％
V的
DD
.
从SDA上升沿SCL下降
边缘。两个过路的V 70 ％
DD
.
从SCL下降沿穿越30 ％
V
DD
直到SDA进入30 ％至70％
V的
DD
窗口。
从30％到V的70％
DD
从70％到V的30％
DD
民
600
600
典型值
最大
单位
ns
ns
笔记
t
苏： DAT
输入数据建立时间
100
ns
t
高清： DAT
输入数据保持时间
0
ns
t
苏： STO
停止条件的建立时间
600
ns
t
高清： STO
t
DH
停止条件保持时间
阅读，或挥发性只写
输出数据保持时间
600
0
ns
ns
t
R
t
F
CPIN
t
WC
t
R
t
F
Cb
R
PU
SDA和SCL上升时间
SDA和SCL下降时间
SDA ， SCL和电容引脚
非易失性写周期时间
SDA和SCL上升时间
SDA和SCL下降时间
20 +
0.1xCb
20 +
0.1xCb
250
250
10
12
20
250
250
400
ns
ns
pF
ms
ns
ns
pF
kΩ
14
15
15
15
15
从30％到V的70％
DD
从70％到V的30％
DD
20 +
0.1xCb
20 +
0.1xCb
10
1
电容式SDA或SCL总片上和片外的装载
SDA和SCL总线上拉电阻最大为t确定
R
和T
F
.
片
用于CB = 400pF时，最大的约
2kΩ~2.5kΩ.
用于CB = 40pF ，最大约为
15kΩ~20kΩ
注意事项：
7.复位无效（不复位） 。
8. V
IL
= V
DD
X 0.1 ，V
IH
= V
DD
×0.9 ，女
SCL
= 400kHz的。
9. V
RESET
= 2.63V (V
DD
必须大于V
RESET
), V
BAT
= 0V.
10位BSW = 0 （标准模式） ， ATR = 00H ，V
BAT
≥1.8V.
11.指定在+ 25°C 。
12.为了确保适当的计时，在V
SR- DD
规范必须遵守。
13.参数不是100 ％测试。
14. t
WC
是被允许为任何非易失性写入由用户的最小周期时间，它是从有效的停止条件时，在写入结束时
序列中的串行接口写入操作，以在自定时内部非易失性写周期的结束。
15.这是我
2
具体参数，并且不直接测试，但是它们是设备的测试过程中使用，以验证设备规范。
16.参数与MIN和/或最大极限100％经过测试，在+ 25 ° C，除非另有规定。温度限制成立
表征和不生产测试。
6
FN8232.8
2010年8月12日
