KAD5514P
校准序列上的上升沿启动
RESETN ，如图24.超范围输出
（OR ）为高，一旦RESETN被拉低，并且保持在
这种状态直到校准完成。在OR输出返回
当时正常操作，所以重要的是，该
模拟输入是转换器的满量程范围内
观察的过渡。如果输入是在一个超范围
调理或PIN将保持高位，这将是不可能的
来检测校准周期结束。
尽管RESETN为低电平时，输出时钟
（ CLKOUTP / CLKOUTN ）设置为低。正常运行
输出时钟恢复，在接下来的输入时钟边沿
RESETN后（ CLKP / CLKN ）失效。在250MSPS
标称校准时间为200ms ，而最大
校准时间是550ms 。
CLKN
CLKP
校准
时间
RESETN
校准
BEGINS
ORP
校准
完整
CLKOUTP
ADC的校准，在+ 25℃和温度发生变化
在未经重新校准操作范围。平均
变化中的SNR / SFDR所示，相对于+ 25 ℃的值。
4
3
SNR CHANGE （ dBFS的）
2
1
0
-1
-2
-3
-4
-40
-15
10
35
60
85
温度（℃）
图25. SNR性能与温度后
+ 25°C校准
15
SFDR CHANGE （ DBC）
10
5
0
-5
-10
-15
-40
图24.时序校准
用户启动的复位
ADC的校准可以在任何时候通过启动
驾驶RESETN引脚拉低了至少一个时钟
周期。开漏驱动器，具有更小的驱动强度比
0.5毫安建议， RESETN有一个内部高
阻抗拉至OVDD 。由于是开机时的情况
复位后， SDO ， RESETN和DNC引脚必须在
正常状态的校验成功执行。
与变化的KAD5514P的性能变化
在温度，供应电压或取样速率。的程度
这些变化可能需要重新校准，根据
系统的性能要求。最佳的性能会
通过在环境重新校准ADC实现
条件在其中工作。
小于100mV的意志一般是电源电压变化
结果，在更小的SNR变化比0.5dBFS和SFDR
改变小于3dBc 。在该情况下，样品在哪里
速率不是恒定的，最好的结果将在设备获得
校准在最高采样率。减少
由小于80MSPS通常会导致一个采样速率
小于0.5dBFS信噪比的变化和的SFDR变化
比3dBc少。
图25和图26示出了温度对信噪比的影响
和SFDR性能，而无需重新校准。在每个图
17
-15
10
35
60
85
温度（℃）
图26. SFDR性能与温度后
+ 25°C校准
模拟量输入
一个单一的全差分输入（ VINP / VINN ）连接到
样品和每个单元的ADC的采样保持放大器（SHA） 。理想
满量程输入电压为1.45V ，集中在VCM电压
0.535V的，如图27 。
1.8
1.4
1.0
0.6
0.2
0.725V
INP
VCM
0.535V
客栈
图27.模拟输入范围
FN6804.1
2009年3月4日
