KAD5612P
交换特定网络阳离子
参数
ADC
孔径延迟
RMS孔径抖动
输出时钟到数据传输延迟，
LVDS模式
输出时钟到数据传输延迟，
CMOS模式
潜伏期（流水线延迟）
过压恢复
SPI接口（注4,5）
SCLK周期
写操作
读操作
SCLK占空比（T
HI
/t
CLK
或T
LO
/t
CLK ）
SCLK ↑到CSB ↓建立时间
SCLK ↑到CSB ↑保持时间
SCLK ↑到数据建立时间
SCLK ↑到数据保持时间
注意事项：
4. SPI接口的时序是成正比的ADC采样期间（t
S
） 。以上数据反映了4ns的采样周期的倍数，而且必须是
较低的采样率缩放比例。
5. SPI可以异步相对于ADC的采样时钟。
读或写
读或写
读或写
读或写
读或写
t
S
t
H
t
DS
t
DH
t
CLK
条件
符号
民
典型值
最大
单位
t
A
j
A
上升沿
下降沿
上升沿
下降沿
t
DC
t
DC
t
DC
t
DC
L
t
OVR
-260
-160
-220
-310
375
60
-50
10
-10
-90
7.5
1
120
230
200
110
ps
fs
ps
ps
ps
ps
周期
周期
64
264
25
-4
-12
-4
-12
50
75
ns
ns
%
ns
ns
ns
ns
t
CLK
热阻抗
参数
结到环境（注6 ）
注意：
6.桨焊接到地平面。
符号
θ
JA
典型值
27
单位
° C / W
ESD
静电荷积聚在人类中，工具和
等设备，并可通过放电任何金属包
联系人集成的（引脚，球，裸露焊盘等）
电路。行业标准的保护技术已
在该产品的设计中使用。但是，合理的
必须注意，在储存和处理的ESD
敏感产品。联系Intersil公司的具体的ESD
本产品的灵敏度等级。
7
FN6803.0
2008年12月5日
