ICL3221E ， ICL3222E ， ICL3223E ， ICL3232E ， ICL3241E ， ICL3243E
与表4.逻辑系列兼容
各个供应电压（续）
系统
电源
电压
(V)
5
V
CC
供应
电压
(V)
3.3
IEC61000-4-2测试
在IEC61000的测试方法适用于成品
设备，而不是一个单独的集成电路。因此，
最容易遭受ESD事件引脚是那些
被暴露于外界（通过RS-232的引脚在此
情况下） ，并且该IC是在其典型应用测试
配置（电源应用），而不是每个测试
引脚到引脚的组合。较低的电流限制
电阻再加上较大的电荷存储电容器
产生一个测试是比HBM测试严重得多。
内置该设备的RS - 232额外的ESD保护
引脚允许设备会议4级的设计
无需额外的电路板级标准
保护的RS - 232端口。
空气间隙放电试验方法
对于此测试方法中，一个电荷的探针尖端移向
该IC引脚直至电压弧吧。趋势/涌流
波形传送到IC引脚取决于方法
速度，湿度，温度，等等，因此它是难以
得到可重复的结果。在“E”器件RS- 232引脚
承受± 15kV的气隙放电。
接触放电测试方法
在接触放电测试，探针接触
探针针尖之前测试销通电，由此
消除与气隙有关的变量
放电。其结果是一个更可重复的，并
可预见的考验，但设备的限制防止测试
器件在电压超过± 8kV的高。所有的“E”系列
设备的生存± 8kV接触放电的RS - 232
销。
兼容性
兼容ACT和
HCT CMOS ，并与TTL 。
ICL32XX输出
不符合AC ， HC ，
和CD4000 CMOS输入。
±15kV ESD保护
在ICL32XX设备上的所有引脚，包括ESD保护
结构，但ICL32xxE系列集成
先进的结构，这使得RS - 232引脚
（发送器输出和接收器输入）生存ESD
事件高达±15kV 。在RS - 232针脚特别
容易受到ESD的损害，因为它们通常
连接到一个暴露的端口对成品的外
产品。只需触摸端口引脚，或连接
电缆，可能会导致ESD事件可能破坏
未受保护的集成电路。这些新的ESD结构保护
设备是否加电时，保护不
允许任何闩锁机制来激活，也不要
干扰RS - 232信号一样大， ± 25V 。
人体模型（ HBM ）测试
顾名思义，这种测试方法模拟了静电放电
人的处理过程中的事件传递到一个集成电路。该
测试人员通过1.5kΩ电流提供充电
限流电阻器，使得测试较不严重
IEC61000测试，其利用一个330Ω的限流电阻。该
HBM方法确定一个IC的承受能力
处理过程中通常存在的ESD瞬变和
制造业。由于这些随机性质
事件，每个轴销相对于所有其他引脚进行测试。
在RS - 232针脚上的“ E”系列器件可以承受
HBM ESD事件±15kV的。
典型性能曲线
6
发送器输出电压（ V）
4
2
0
-2
-4
-6
V
OUT
-
V
OUT
+
V
CC
= 3.3V ，T
A
= +25°C.
25
20
1变送器在250kbps
1或2变送器AT 30kbps
摆率（ V / μs的）
15
-SLEW
+ SLEW
10
0
1000
2000
3000
4000
5000
5
0
1000
负载电容（PF ）
2000
3000
负载电容（PF ）
4000
5000
图13，发送器输出电压Vs
负载电容
图14.压摆率与负载电容
20
FN4910.21
2010年2月22日
