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KAD5612P
校准序列上的上升沿启动
RESETN ，如图23.超范围输出
（OR ）为高，一旦RESETN被拉低，并且保持在
这种状态直到校准完成。在OR输出返回
当时正常操作，所以重要的是，该
模拟输入是转换器的满量程范围内
观察的过渡。如果输入是在一个超范围
调理或PIN将保持高位，这将是不可能的
来检测校准周期结束。
尽管RESETN为低电平时，输出时钟
（ CLKOUTP / CLKOUTN ）设置为低。正常运行
输出时钟恢复，在接下来的输入时钟边沿
RESETN后（ CLKP / CLKN ）失效。在250MSPS
标称校准时间为200ms ，而最大
校准时间是550ms 。
CLKN
CLKP
校准
时间
RESETN
校准
BEGINS
ORP
SFDR CHANGE （ DBC）
图25和图26示出了温度对信噪比的影响
和SFDR性能，而无需重新校准。在每个图
ADC的校准，在25℃和温度变化过
经营范围而不重新校准。平均
变化中的SNR / SFDR所示，相对于+ 25 ℃的值。
4
3
SNR CHANGE （ dBFS的）
2
1
0
-1
-2
-3
-4
-40
-15
10
35
60
85
温度（℃）
图24. SNR性能与温度后
+ 25°C校准
15
校准
完整
CLKOUTP
10
5
0
-5
-10
-15
-40
图23.时序校准
用户启动的复位
ADC的校准可以在任何时候通过启动
驾驶RESETN引脚拉低了至少一个时钟
周期。开漏驱动器，具有更小的驱动强度比
0.5毫安建议， RESETN有一个内部高
阻抗拉至OVDD 。由于是开机时的情况
复位后， SDO ， RESETN和DNC引脚必须在
正常状态的校验成功执行。
与变化的KAD5612P的性能变化
在温度，供应电压或取样速率。的程度
这些变化可能需要重新校准，根据
系统的性能要求。最佳的性能会
通过在环境重新校准ADC实现
条件在其中工作。
小于100mV的意志一般是电源电压变化
结果，在更小的SNR变化比0.5dBFS和SFDR
改变小于3dBc 。
在情况下，采样率不是恒定的，最好
如果该装置被校准以将结果得到的
最高的采样率。由小于降低采样速率
75MSPS通常会导致更小的信噪比的变化比
0.5dBFS和小于3dBc的SFDR变化。
-15
10
35
60
85
温度（℃）
图25. SFDR性能与温度后
+ 25°C校准
模拟量输入
每个ADC内核包含一个全差分输入
（ AINP / AINN ， BINP / BINN ）的采样保持放大器
（SHA） 。理想的满量程输入电压为1.45V ，中心在
0.535V的VCM的电压，如图26 。
当模拟输入是获得最佳性能
差分驱动。所述共模输出电压
VCM ，应采用适当的偏压输入端所示
图27至29 。
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FN6803.1
2009年1月21日
