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KAD5512HP
价值
000
001
010
100
0x93[7:5]
输出模式
引脚控制
LVDS 2毫安
LVDS 3毫安
LVCMOS
ING 。静态字可以被放置在输出总线上，
还是两个不同的词可以交替。在备用
模式下，定义为字1字2 （值
在表13中示出）上的替代方案的输出总线上都设置
内廷时钟相位。
地址为0xC0 ： TEST_IO
7：6位用户测试模式
这些位设置测试模式为静态（ 0x00），或是
备用（ 0x01）的模式。其它值重新
服。
该寄存器（输出测试模式）的四个LSB阻止 -
矿联合测试模式与寄存器
为0xC2通过0xC5 。请参阅表15 。
价值
0000
0001
0010
0011
0100
0101
0110
0111
1000
表13.输出模式控制
价值
000
001
010
100
0x93[2:0]
输出格式
引脚控制
二进制补码
格雷码
偏移二进制码
为0xC0 [3：0 ]
输出测试模式
关闭
中间电平
正满量程
负满量程
棋盘
版权所有
版权所有
一/零
用户模式
WORD 1
WORD 2
表14.输出格式控制
地址0X74 ： OUTPUT_MODE_B
地址0X75 ： CONFIG_STATUS
第6位
DLL范围
该位设置DLL运行范围要快
（ TBD 2 MSPS至2 5 0 MS PS ） orslow （ 4 0
TBD1MSPS).
4位
DDR启用
设置此位使能双数据速率
模式。
该output_mode_B和config_status寄存器
配合使用，使DDR模式和选择
频率范围内的DLL时钟发生器。该
设置这些选项的方法是从不同
其他寄存器。
0x8000
0xFFFF
0x0000
0xAAAA
不适用
不适用
0xFFFF
user_patt1
不适用
不适用
不适用
0x5555
不适用
不适用
0x0000
user_patt2
表15.输出测试模式
地址为0xC2 ： user_patt1_lsb
地址0xC3 ： user_patt1_msb
这些寄存器定义下部和上部8位
所述第一用户定义的测试字的分别。
地址为0xC2 ： user_patt2_lsb
地址0xC3 ： user_patt2_msb
这些寄存器定义下部和上部8位
所述第二用户定义的测试字的分别。
图46.设置OUTPUT_MODE_B注册
用于设定output_mode_B过程示于
图46.阅读output_mode_B的内容，并
config_status和XOR他们。那么这个异或结果与
对于output_mode_B和所需的值写
XOR结果到寄存器。
DUT测试
该KAD5512HP可以产生预置或用户定义
在数字输出模式，以便在原位测试 -
REV 0.5初步
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