位置：首页 > IC型号导航 > 首字符N型号页 > 首字符N的型号第218页 > NHD-C12864AZ-FSY-YBW > NHD-C12864AZ-FSY-YBW PDF资料 > NHD-C12864AZ-FSY-YBW PDF资料1第9页
质量信息
测试项目
高温储存
低温储存
高温
操作？
低温
操作？
高温度/
湿度操作
抗热震性
测试内容
耐力测试应用的高
存储温度很长一段时间。
耐力测试应用的低存储
温度很长一段时间。
耐力测试应用电压力
（电压&电流）和高的热
应力很长一段时间。
耐力测试应用电压力
（电压&电流）和较低的热
应力很长一段时间。
耐力测试应用电压力
（电压&电流）和高的热
高湿度应力很长一段时间。
耐力测试应用电压力
（电压&电流）时的低周期
和高的热应力。
忍耐测试应用振动
模拟运输和使用。
测试条件
+80C,48hrs
‐30C,48hrs
+70C48hrs
记
2
1,2
2
‐20C,48hrs
1,2
+ 40C ，90％ RH， 48小时
1,2
振动试验
静电测试
忍耐测试应用电静
放电。
‐0C,30min‐>25C,5min‐>
50C,30min=1cycle
10cycles
10-55HZ 15毫米的幅度。
60secineachof3directions
的X， Y，Z轴
For15minutes
VS=800V,RS=1.5kΩ,CS=100pF
一度
3
注1 ：无结露待观察。
注2 ： 4小时后储存所进行的25
C,0%RH.
注3 ？
对产品本身进行测试，容器不进去。
注意事项使用液晶显示器/堵漏
见注意事项在www.newhavendisplay.com/specs/precautions.pdf
保修信息和条款&条件
http://www.newhavendisplay.com/index.php?main_page=terms
[9]
