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MSP430G2x31
MSP430G2x21
SLAS694C - 2010年2月 - 修订2010年7月
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表2.端子功能
终奌站
号
名字
P1.0/
TA0CLK/
ACLK /
A0
P1.1/
TA0.0/
A1
P1.2/
TA0.1/
A2
P1.3/
ADC10CLK/
A3/
VREF- / VEREF
P1.4/
SMCLK /
A4/
VREF + / VEREF + /
TCK
P1.5/
TA0.0/
A5/
SCLK /
TMS
P1.6/
TA0.1/
A6/
SDO /
SCL /
TDI / TCLK
P1.7/
A7/
SDI /
SDA /
TDO / TDI
(2)
鑫/
P2.6/
TA0.1
XOUT /
P2.7
RST /
NMI /
SBWTDIO
测试/
SBWTCK
DVCC
DVSS
QFN垫
(1)
(2)
(3)
14
N， PW
2
16
RSA
1
I / O
通用数字I / O引脚
Timer0_A ，时钟信号输入TACLK
ACLK信号输出
ADC10模拟输入A0
(1)
通用数字I / O引脚
Timer0_A ，捕捉： CCI0A输入，比较：横向连线Out0输出
ADC10模拟输入A1
(1)
通用数字I / O引脚
Timer0_A ，捕捉： CCI1A输入，比较：输出1输出
ADC10模拟输入A2
(1)
通用数字I / O引脚
ADC10 ，转换时钟输出
(1)
ADC10模拟输入A3
(1)
ADC10负参考电压
(1)
通用数字I / O引脚
SMCLK信号输出
ADC10模拟输入A4
(1)
ADC10正参考电压
(1)
JTAG测试时钟，用于器件编程和测试输入端
通用数字I / O引脚
Timer0_A ，比较：横向连线Out0输出
ADC10模拟输入A5
(1)
USI ：在I2C模式的时钟输入;时钟输入/ SPI模式输出
JTAG测试模式选择，用于器件编程和测试输入端
通用数字I / O引脚
Timer0_A ，比较：输出1输出
ADC10模拟输入A6
(1)
USI ：在SPI模式下的数据输出
USI ：在I2C模式I2C时钟
JTAG测试数据输入或编程和测试过程中的测试时钟输入
通用数字I / O引脚
ADC10模拟输入A7
(1)
USI ：数据输入工作在SPI模式
USI ：在I2C模式I2C数据
编程和测试过程中的JTAG测试数据输出终端或测试数据输入
晶体振荡器的输入端
通用数字I / O引脚
Timer0_A ，比较：输出1输出
晶体振荡器的输出端
(3)
通用数字I / O引脚
RESET
不可屏蔽中断输入
间谍双线测试数据输入/输出编程和测试过程中
选择测试模式的端口1的设备保护用保险丝连接到测试的JTAG管脚。
编程和测试期间间谍双线测试时钟输入
电源电压
接地参考
QFN封装焊盘连接到V
SS
推荐使用。
I / O
描述
3
2
I / O
4
3
I / O
5
4
I / O
6
5
I / O
7
6
I / O
8
7
I / O
9
8
I / O
13
12
10
11
1
14
-
12
11
9
10
15, 16
13, 14
PAD
I / O
I / O
I
I
NA
NA
NA
只有MSP430G2x31
TDO或TDI通过JTAG指令选择。
如果XOUT / P2.7用作输入时，过量电流流过，直到P2SEL.7被清除。这是由于在振荡器输出驱动器连接
在复位后，此片。
6
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2010 ，德州仪器
