FlashFlex51 MCU
SST89E52RD2 / RD / SST89E54RD2 / RD / SST89E58RD2 / RD
SST89V52RD2 / RD / SST89V54RD2 / RD / SST89V58RD2 / RD
初步规格
TO测试仪
到DUT
CL
1255 F42.0
图14-10 ：一件T
美东时间
L
OAD
E
XAMPLE
VDD
VDD
VDD
RST
P0
EA ＃
RST
国际直拨电话
VDD
VDD
P0
EA ＃
VDD
国际直拨电话
VDD
SST89x5xRDx
时钟
信号
（ NC ）
XTAL2
XTAL1
VSS
1255 F43.1
SST89x5xRDx
（ NC ）
XTAL2
XTAL1
VSS
1255 F44.1
所有其他引脚断开
所有其他引脚断开
图14-11 ：我
DD
T
美东时间
C
ONDITION
,
A
莫如
M
ODE
图14-13 ：我
DD
T
美东时间
C
ONDITION
,
P
OWER
-
下
M
ODE
表14-11 ：F
LASH
M
埃默里
P
AGC软件
/
V
ERIFICATION
P
ARAMETERS1
参数
2
VDD
VDD
VDD
P0
RST
EA ＃
国际直拨电话
最大
150
100
30
50
80
单位
ms
ms
ms
s
s
T14-11.0 1255
芯片擦除时间
块擦除时间
扇区擦除时间
字节编程
时间
3
重新映射或安全位亲
克时间
SST89x5xRDx
时钟
信号
（ NC ）
XTAL2
XTAL1
VSS
1255 F45.1
所有其他引脚断开
1.对于IAP操作，程序执行的开销
必须被加入到上述的定时参数。
2.编程和擦除时间将规模成反比
编程的时钟频率。
3.每个字节编程之前必须擦除。
图14-12 ：我
DD
T
美东时间
C
ONDITION
,
I
DLE
M
ODE
2005硅存储技术公司
S71255-02-000
3/05
74
