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飞利浦半导体
产品speci fi cation
单芯片8位微控制器
80C562/83C562
DC电气特性
（续）
TEST
符号
模拟输入
AV
DD
模拟电源电压：
PCB8XC562
PCF8XC562
PCA8XC562
模拟电源电流：操作：
空闲模式：
PCB8XC562
PCF8XC562
PCA8XC562
掉电模式：
PCB8XC562
PCF8XC562
PCA8XC562
模拟输入电压
参考电压：
AV
REF-
AV
REF +
AV之间的电阻
REF +
和AV
REF-
模拟量输入电容
采样时间
转换时间（包括采样时间）
微分非线性
8, 9, 10
积分非线性
8, 11
偏移误差
8, 12
增益误差
8, 13
通道间匹配
端口输入之间的串扰5
14
0–100kHz
2V < AV
PD
＆ LT ; AV
DD
最大
50
50
100
AV
SS
–0.2
AV
SS
–0.2
AV
DD
+0.2
5
25
15
6t
CY
24t
CY
±1
±1
±1
0.4
±1
–60
AV
DD
+0.2
AV
DD
= V
DD
±0.2V
AV
DD
= V
DD
±0.2V
AV
DD
= V
DD
±0.2V
港口5 = 0至AV
DD
4.0
4.0
4.5
6.0
6.0
5.5
1.2
50
50
100
V
V
V
mA
A
A
A
A
A
A
V
V
V
k
pF
s
s
最低位
最低位
最低位
%
最低位
dB
参数
条件
民
范围
最大
单位
AI
DD
AI
ID
AI
PD
AV
IN
AV
REF
R
REF
C
IA
t
ADS
t
ADC
DL
e
IL
e
OS
e
G
e
M
CTC
C
t
注意事项：
1.请参见图8至图12的我
DD
测试条件。
2.工作电源电流测量时，所有输出引脚断开; XTAL1驱动吨
r
= t
f
= 10ns的; V
IL
= V
SS
+ 0.5V;
V
IH
= V
DD
- 0.5V ; XTAL2不连接; EA = RST =口= 0 EW = V
DD
; STADC = V
SS
.
3.空闲模式下电源电流测量时，所有输出引脚断开; XTAL1驱动吨
r
= t
f
= 10ns的; V
IL
= V
SS
+ 0.5V;
V
IH
= V
DD
- 0.5V ; XTAL2不连接;端口0 = EW = V
DD
; EA = RST = STADC = V
SS
.
4.掉电电流测量时，所有输出引脚断开; XTAL2不连接;端口0 = EW = V
DD
;
EA = RST = STADC = XTAL1 = V
SS
.
5.销端口1 ，2，3和4的源它们被从外部1驱动到0的转变的电流达到一个过渡电流的
最大值当V
IN
大约是2V 。
6.容性负载，端口0和2会引起寄生噪声对V至叠加
OL
ALE和端口号1和3中的噪声是由于
外部总线电容放电到端口0和端口2引脚时，这些引脚进行期间公交运营1到0的转换。在
最坏的情况下（容性负载> 100pF的） ，在ALE引脚上的脉冲噪声可能会超过0.8V 。在这种情况下，可以期望来限定
ALE带施密特触发器，或者使用一个地址锁存器与施密特触发器选通输入。我
OL
可以超过只要这些条件不
单输出比5毫安下沉越来越不超过两个输出超过试验的条件。
7.容性负载，端口0和2可能会导致V
OH
在ALE和PSEN到瞬间落在0.9V以下
DD
说明当
地址位稳定。
8.条件： AV
REF-
= 0V ; AV
DD
= 5.0V ， AV
REF +
= 5.12V 。 ADC是单调的，无失码。
9.微分非线性（DL-
e
）是实际步长宽度与理想步长之间的差。 （参见图1 ）
10. ADC是单调的;还有无失码。
11.积分非线性（伊利诺斯
e
）是实际的和之后的理想传递曲线的步距中心之间的峰值差
增益和偏移误差适当的调整。 （参见图1 ）
12.偏移误差（OS
e
）是符合实际的传输曲线（除去增益误差）之后的直线之间的绝对差，以及
的直线与理想转换曲线。 （参见图1 ）
13.增益误差（G
e
）是在直线拟合实际转换曲线之间百分比的相对差（消除偏移误差后） ，
并符合理想传递曲线的直线。增益误差是在传输曲线上的每一点都不变。 （参见图1 ）
14.本时，应考虑这两个模拟和数字信号同时输入到端口5 。
1992年1月8日
8
