512千位/ 1兆位/ 2兆位1.8V SPI串行闪存
SST25WF512 / SST25WF010 / SST25WF020
超前信息
CE＃
T
HHH
SCK
T
HLH
T
HZ
T
LZ
T
HLS
T
HHS
SO
SI
HOLD ＃
1328 F26.0
图28 ：保持时序图
VIHT
VHT
输入 -
参考点
VHT
产量
VLT
VILT
VLT
1326 F28.0
AC测试输入在V驱动
IHT
(0.9V
DD
）为一个逻辑“1”和第五
ILT
(0.1V
DD
）为一个逻辑“0”。测量参考点
输入和输出为V
HT
(0.6V
DD
）和V
LT
(0.4V
DD
） 。输入上升和下降时间（ 10 ％
90％）是<5纳秒。
注意：
V
HT
- V
高
TEST
V
LT
- V
低
TEST
V
IHT
- V
输入
高测试
V
ILT
- V
输入
低测试
图29 ： AC输入/输出参考波形
2006硅存储技术公司
S71328-01-000
02/07
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