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（E S）我
I
ES
Excel的半导体公司。
3.3V
表8.测试规范
2.7k
设备
下
TEST
测试条件
输出负载
70
90
1TTL门
120
C
L
6.2k
输出负载电容，C
L
（包括夹具
电容）
输入上升和下降时间
输入脉冲电平
输入定时测量参考电平
30 pF的
100 pF的
100 pF的
5纳秒
0.0 - 3.0 V
1.5 V
1.5 V
图14.测试设置
记
:
二极管IN3064或同等学历
输出时序测量参考电平
关键开关波形
波形
输入
稳定
改变从H到L
改变以L至H
不关心，任何允许更改
不适用
改变，状态未知
中心线为高阻抗状态（高阻）
输出
3.0V
输入
0.0V
1.5V
测量级别
1.5V输出
图15.输入波形和测量水平
ES29LV800E
29
2006年修订版0A 1月5日，
