DG408 ， DG409
测试电路和波形
+15V
+2.4V
EN
A
0
逻辑
输入
50
A
1
A
2
V+
S
1
8
+15V
+2.4V
±10V
10V
开关
产量
V
O
35pF
逻辑
输入
50
±
EN
V+
S
1B
±10V
开关
产量
V
O
35pF
GND
V-
D
300
A
1
GND
V-
D
B
300
-
15V
图1A 。 DG408测试电路
-
15V
图1B 。 DG409测试电路
逻辑
输入
3V
50%
0V
V
S1
S
1
ON
50%
t
r
＆ LT ;为20ns
t
f
＆ LT ;为20ns
开关
产量
V
O
0.8 V
S1
0.8 V
S8
t
TRANS
S
8
ON
t
TRANS
0V
V
S8
图1C 。测量点
图1.转换时间
+15V
+15V
A
0
逻辑
输入
A
1
V
IN
50
A
2
V+
DG408
S
2
- S
8
V-
D
S
1
-
5V
开关
产量
V
O
300
35pF
逻辑
输入
V
IN
50
EN GND
V+
S
1B
DG409
A
1
S
1A
- S
4A
S
2B -
S
4B,
D
A
EN GND V-
B
A
0
300
-
15V
图2A 。 DG408测试电路
-
15V
图2B 。 DG409测试电路
逻辑
输入
V
IN
3V
50%
0V
t
ON （ EN ）
0V
50%
t
r
＆ LT ;为20ns
t
f
＆ LT ;为20ns
开关
产量
V
O
V
O
0.9 V
O
t
OFF （ EN ）
图2C 。测量点
图2.启用开关时间
6
±
S
2
- S
7
DG408 S
S
1A
- S
4A,
D
A
A
0
DG409 S
4B
10V
-
5V
开关
产量
V
o
35pF
FN3283.8
2006年6月13日
