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MX29F040C
开合试验电路
设备下
TEST
2.7K欧姆
+5V
CL
6.2K欧姆
DIODES=IN3064
或同等学历
CL = 100pF的含夹具电容为70ns ，并为90ns
CL = 30pF的含夹具电容为55ns
开合试验波形29F040C -70和29F040C -90
0.7xVCC
2.0V
2.0V
测试点
0.8V
0.45V
输入
0.8V
产量
AC测试：输入被驱动0.7xVCC的逻辑"1"和0.45V的逻辑"0" 。
输入脉冲的上升和下降时间为10ns < 。
开合试验波形29F040C -55
0.7xVCC
1.5V
测试点
1.5V
0V
输入
产量
AC测试：输入被驱动0.7xVCC的逻辑"1" ，并为0V逻辑"0" 。
输入脉冲的上升和下降时间为5ns < 。
P / N ： PM1201
REV 。 1.0，十二月20 ， 2005年
17
