测试电路
串扰测试电路
V+
V-
开关时间测试电路
4211.STTC.E
V+
V-
VI = 1VR毫秒
100kHz
50
COM1
COM2
V+
V-
OUT1
OUT2
R
L
= 1K
V
O
C
L
= 15pF的
V+
V
S
= 3V
逻辑输入
100kHz
4.5V
0V
COM1
IN1
GND
V-
OUT1
V
O
C
L
= 35pF
GND
C
L
= 15pF的
R
L
= 1K
R
L
= 1K
t
r
= t
f
≤
20ns
CCRR = 20日志[V
O
/ VI]
逻辑输入
V
O
50%
50%
关绝缘测试电路
V+
V-
10%
90%
VI = 1VRMS
100kHz
50
COM1
IN1
V+
V-
OUT1
R
L
=
1K
V
O
C
L
= 15pF的
t
on
/ t
关闭
t
关闭
/ t
on
GND
Q
IRR
= 20的日志（Ⅴ
O
/六）
电荷注入测试电路
4211.CITC.EP
V+
V-
V+
COM1
IN1
GND
4.5V
0.5V
逻辑输入
100kHz
V-
OUT1
V
O
C
L
= 200pF的
总谐波失真
测试电路
4211.THDTC.EPS.W
V+
V-
VI =为1Vpp
100kHz
50
COM1
IN1
V+
V-
OUT1
R
L
=
1K
V
O
逻辑输入
V
O
Q
= C
L
V
O
GND
C
L
= 15pF的
V
O
ALD4211/ALD4212
ALD4213
先进的线性器件
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