ADS61B23
www.ti.com
SLAS582 - 2008年2月
串行寄存器映射
表5
提供了所有可通过串行接口进行编程的模式的摘要。
表5.功能概述支持的串行接口
(1) (2)
注册
地址
十六进制
A4 - A0
D10
<PDN
OBUF>
产量
缓冲器
供电
下
<DATAOUT
POSN>
输出数据
位置
控制
按位或
按字节
控制
<DATA
FORMAT>
2s
补
或直
二进制
D9
D8
D7
寄存器的功能
D6
D5
<REF>
内部或
外
参考
D4
D3
D2
<PDN
CLKOUT>
产量
时钟缓冲器
供电
下
D1
D0
00
<LVDS
<COARSE
CMOS>
GAIN>
LVDS或
粗增益CMOS输出
接口
<CLKOUT
EDGE>
产量
时钟边沿
控制
0
<CLKOUT
POSN>
输出时钟
位置
控制
0
0
0
<RST>
软件
RESET
0
0
<STBY>
ADC电源
下
04
0
0
0
0
0
0
0
0
09
0
0
0
0
0
0
0
0
0A
0
0
<TEST PATTERNS>
0
0
0
0
0
0B
0C
<FINE GAIN>
精细增益0到6分贝
0
<CUSTOM LOW>
自定义模式下7位
0
0
0
0
0
0
0
<CUSTOM HIGH>
自定义模式的高5位
<LVDS CURRENT>
LVDS电流控制
0
0
<CURRENT
DOUBLE>
LVDS电流双
0
0
0E
LVDS终止
LVDS内部端接控制输出数据和时钟
0
0
<DRIVE STRENGTH>
CMOS输出缓冲器驱动强度控制
0F
0
(1)
(2)
未使用的位中的每一个寄存器中（空白单元格上表示）必须被编程为“0”。
在寄存器中的多种功能可以在一个单一的写操作进行编程。
2008 ，德州仪器
提交文档反馈
产品文件夹链接（ S） ：
ADS61B23
15
