P L I M I N A R
系统测试和调试
该lanSC310微控制器提供测试
与标准测试AC-兼容的调试功能
塞斯端口（TAP ）和边界扫描结构
（JTAG） 。
在测试和调试逻辑包含以下元素
ments ：
n
五额外的引脚， TDI ， TMS ， TCK ，TDO和TRST
（ JTAGEN ） 。 JTAGEN是专用的;其他四
复用。
n
测试访问端口（TAP ）控制器，它解码
在测试模式选择（ TMS）的线到输入端
控制测试操作。
n
指令寄存器（IR） ，它接受指令
从测试数据输入（TDI ）引脚。该指令
代码选择特定的测试或调试操作
执行或测试数据寄存器是AC-
cessed 。
n
测试数据寄存器：边界扫描寄存器
（ BSR ） ，设备识别寄存器（ DID ） ，以及附例
通过注册（ BPR） 。
测试访问端口（ TAP）控制器
TAP控制器是一个同步有限状态马
脊部，其控制的操作的序列
测试逻辑。 TAP控制器中重新改变状态
sponse到TCK和违约的上升沿到
在电测试逻辑复位状态。重新初始化到
测试逻辑复位状态是通过保持完成
TMS引脚为高电平五个TCK周期。
指令寄存器
指令寄存器是一个4位寄存器，允许
指令被串行移入器件。在 -
梁支决定了无论是在测试执行或
数据寄存器进行访问，或两者。所述至少显著位
最接近的TDO输出。当TAP控制器恩
逐张拍摄-IR状态时，指令寄存器
加载默认指令IDCODE 。这是
在边界扫描连接进行测试的故障
在董事会层面。
边界扫描寄存器
边界扫描寄存器的串行移位寄存器
从TDI到TDO ，包括所有的边界扫描
在每个I / O缓冲寄存器位和控制单元。
设备识别寄存器
设备识别寄存器是一个32位寄存器
其中包含lanSC310 MI- AMD的ID码
crocontroller ： 195FA003h 。
旁路寄存器
旁路寄存器提供了从TDI到TDO路径
同一个时钟周期的延迟。它有助于绕过芯片
完全包含在测试板的许多芯片。
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ELAN SC310单片机数据表
测试访问端口指令集
以下说明支持：
n
采样/预加载。该指令使SAM-
的边界扫描寄存器的内容耦
以及边界扫描的串行装
通过TDI注册。
n
绕行。该指令用于连接TDI和TDO
通过1位的移位寄存器，旁路寄存器。
n
EXTEST 。该指令允许并行加载
的边界扫描寄存器。该器件的输入
被捕获的输入边界扫描单元和
设备的输出被捕获在输出边界
扫描单元。
n
IDCODE 。该指令用于连接ID码稳压
TDI和TDO之间存器。 ID代码寄存器
包含该设备的固定的ID码值。
JTAG软件
该lanSC310微控制器采用联合bidi-
rectional细胞。需要移位的总数
加载lanSC310边界扫描寄存器是173 。
下表显示的相对位置的所有
lanSC310 JTAG细胞。注意：
n
链开始于连接到TDI PMC2 （引脚77 ） 。
n
在8042CS链端连接到（引脚75 ）
TDO 。
n
所述控制单元被设置在链内，其
相对位置被表示在表中。
n
该多路复用信号（ TCK ， TDI ，TDO和TMS ）是
不属于细胞链。
n
控制细胞的活性低。
n
请参考图的IEEE 1149标准的10-22 。
