HI- 506A ， HI- 507A ， HI- 508A ， HI- 509A

数据表

2004年11月22日

FN3143.5

16通道， 8通道，差分

8通道和差分4通道，

CMOS模拟的MUX与活动

过压保护

在HI- 506A ， HI- 507A ， HI- 508A和HI- 509A是模拟

多路复用器与有源过压保护。模拟量输入

水平可能大大超过任一电源无

损坏设备或干扰其它的信号路径

通道。主动保护电路可确保信号

科幻保真度甚至在故障情况下认为会

摧毁其他多路复用器。模拟输入可承受

恒70V

P-P

与水平

±15V

耗材。数字输入会

还支持连续的故障高达4V大于或者

供应量。此外，信号源免受短

短路应多路复用器供电损失发生。每个输入

呈现这种状态下电阻为1kΩ 。这些

特点使得HI- 506A ， HI- 507A ， HI- 508A和HI- 509A

非常适合用在系统中的模拟输入来源

从外部设备，或单独供电的电路。所有

设备均选用44V介质隔离CMOS

技术。在HI - 506A是一个16通道多路复用器，

在HI- 507A是一款8通道差分多路复用器，该

HI - 508A是一种单8通道多路复用器及HI- 509A是

差分4通道多路复用器。如果输入过压

保护是没有必要的HI -五百○七分之五百○六/五百〇九分之五百〇八

多路复用器建议。欲了解更多信息，请参阅

应用笔记AN520和AN521 。

特点

模拟过电压。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 70V

P-P

无渠道互动中的过电压

最大供电。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 44V

故障安全与功率损耗（无闩锁）

??先开后合式开关

模拟信号范围。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。

±15V

访问时间。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。为500ns

功耗。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 7.5MW

无铅可（符合RoHS ）

应用

数据采集系统

工业控制

遥测

订购信息

部分

数

HI1-0506A-2

HI1-0506A-5

HI1-0506A-8

HI3-0506A-5

HI3-0506A-5Z

（见注）

HI3-0507A-5

HI3-0507A-5Z

（见注）

HI1-0508A-8

HI3-0508A-5

HI1-0509A-2

HI1-0509A-5

HI1-0509A-8

HI3-0509A-5

HI3-0509A-5Z

（见注）

TEMP 。 RANGE

(

o

C)

-55至125

0-75

包

28 Ld的CERDIP

28 Ld的CERDIP

PKG 。

DWG 。 ＃

F28.6

F28.6

F28.6

E28.6

E28.6

E28.6

E28.6

F16.3

E16.3

F16.3

F16.3

F16.3

E16.3

E16.3

-55至125

28 Ld的CERDIP

+ 160小时老化测试

0-75

0-75

0-75

0-75

28 Ld的PDIP

28 Ld的PDIP

（无铅）

28 Ld的PDIP

28 Ld的PDIP

（无铅）

-55至125

16 Ld的CERDIP

+ 160小时老化测试

0到75

-55至125

0-75

16 Ld的PDIP

16 Ld的CERDIP

16 Ld的CERDIP

-55至125

16 Ld的CERDIP

+ 160小时老化测试

0-75

0-75

16 Ld的PDIP

16 Ld的PDIP

（无铅）

注： Intersil无铅产品采用特殊的无铅材料制成，造型

塑料/晶片的附属材料和100 ％雾锡板终止完成，这是

符合RoHS标准，既锡铅和无铅焊接操作兼容。

Intersil无铅产品分类MSL在无铅峰值回流温度下

达到或超过IPC / JEDEC J STD-020C标准的无铅要求。

1

注意：这些器件对静电放电敏感;遵循正确的IC处理程序。

1-888- INTERSIL或321-724-7143

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