MCF52211系列配置
1.2.4
JTAG
该MCF52211支持基于IEEE的测试技术委员会和联合测试行动的电路板的测试策略
组（JTAG） 。测试逻辑包括测试访问端口（TAP ） ，它由16状态控制器，一个指令寄存器，并
三个测试寄存器（ 1位旁路寄存器，一个256位的边界扫描寄存器，和一个32位ID寄存器）。边界扫描寄存器
连接器件引脚到一个移位寄存器。测试逻辑，使用静态逻辑设计实施的，是独立于装置的
系统逻辑。
该MCF52211实现可以：
执行边界扫描操作测试电路板的电气连续性
操作过程中样品MCF52211系统引脚和透明转移出来的结果，在边界扫描寄存器
通过有效地减少了绕过MCF52211对于给定的电路板测试的边界扫描寄存器的一个位
在电路板的测试禁止输出驱动器引脚
驱动输出引脚，以稳定的水平
1.2.5
1.2.5.1
片上存储器
SRAM
双端口SRAM模块提供了ColdFire内核可以在访问一个通用的16K字节的内存块
单周期。存储器块的位置可以被设置到4G字节的地址空间中的任何16K字节的边界。这
存储器是理想的，用于存储关键码或数据结构和使用作为系统堆栈。由于SRAM模块
物理地连接到处理器的高速局部总线，它可以快速地提供服务的核心启动的存取或
从调试模块的内存引用指令。
该SRAM模块也由DMA访问。 SRAM的双端口特性使得它非常适合执行
用双缓冲器方案中，处理器和一个DMA设备工作在SRAM来备用区域，其中应用
最大限度地提高系统性能。
1.2.5.2
FL灰内存
ColdFire的闪光灯模块（CFM）是一种非易失性存储器（NVM）模块，连接到处理器的高速本地
总线。在CFM与四家银行的16 -K字节× 16位闪存阵列构成，产生128 KB的32位闪存
内存。这些电可擦除和可编程阵列用作非易失性程序和数据存储器。闪光
存储器是理想的程序和数据存储为单芯片应用，允许字段重新编程，而无需
外部高电压源。通过优化的只读存储器控制器的CFM接口到ColdFire内核
支持从2周期闪存存储器阵列交错存取。闪存的后门程序映射用于
所有编程，擦除和验证操作，以及提供一个读数据通路为DMA 。闪速存储器还可以是
经由EzPort ，这是一个串行闪存编程接口，允许闪速存储器被读取编程
擦除和通过与最SPI总线闪存芯片兼容的格式的外部控制器编程。
1.2.6
电源管理
该MCF52211结合工作的多个低功率模式由几个程序的控制下进入和退出
外部触发事件。集成的上电复位（ POR ）电路监测输入电源和强制MCU复位的
电源电压升高。低电压检测（ LVD ）监控电源电压和可配置为强制复位或中断
条件如果低于LVD跳变点。在RAM待机开关提供电源到RAM时的电源电压的
芯片低于备用电池电压。
MCF52211的ColdFire微控制器，第0版
飞思卡尔半导体公司
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