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BS62LV2006
n
低V
CC
数据保存波形图（ 2 ） （ CE2控制）
数据保持方式
V
CC
V
CC
V
DR
≧1.5V
V
CC
t
CDR
t
R
CE2≦0.2V
CE2
V
IL
V
IL
n
AC测试条件
（测试负载和输入/输出参考）
n
关键开关波形
波形
输入
必须是
稳定
可能改变
从
“H”
TO
“L”
可能改变
从
“L”
TO
“H”
不在乎
任何改变
许可
不
申请
输出
必须是
稳定
将改变
从
“H”
TO
“L”
将改变
从
“L”
TO
“H”
变化：
州UNKNOW
中心线
高Inpedance
“关”的
状态
输入脉冲电平
输入上升和下降时间
输入和输出时序
参考电平
输出负载
t
CLZ
, t
OLZ
, t
CHZ
, t
OHZ
, t
WHZ
OTHERS
VCC / 0V
1V/ns
0.5Vcc
C
L
= 5pF的+ 1TTL
C
L
= 30pF的+ 1TTL
所有的输入脉冲
1 TTL
产量
C
L(1)
V
CC
GND
10%
90%
90%
10%
→ ←
上升时间：
1V/ns
→ ←
下降时间
1V/ns
1.包括夹具和范围电容。
n
AC电气特性（T
A
= -40°C至+ 85°C ）
读周期
JEDEC
PARANETER
参数
名字
名字
周期时间： 55ns
(V
CC
= 3.0~5.5V)
分钟。典型值。马克斯。
55
--
(CE1)
(CE2)
--
--
--
(CE1)
(CE2)
10
10
5
(CE1)
(CE2)
--
--
--
10
--
--
--
--
--
--
--
--
--
--
--
--
--
55
55
55
30
--
--
--
30
30
25
--
周期：为70ns
(V
CC
= 2.7~5.5V)
分钟。典型值。马克斯。
70
--
--
--
--
10
10
5
--
--
--
10
--
--
--
--
--
--
--
--
--
--
--
--
--
70
70
70
35
--
--
--
35
35
30
--
O
O
描述
读周期时间
地址访问时间
芯片选择访问时间
芯片选择访问时间
输出使能到输出有效
片选到输出低Z
片选到输出低Z
输出使能到输出低Z
芯片选择到输出高Z
芯片选择到输出高Z
输出使能到输出高Z
从地址变化数据保持
单位
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
t
AVAX
t
AVQX
t
E1LQV
t
E2HQV
t
GLQV
t
E1LQX
t
E2HQX
t
GLQX
t
E1HQZ
t
E2LQZ
t
GHQZ
t
AVQX
t
RC
t
AA
t
ACS1
t
ACS2
t
OE
t
CLZ1
t
CLZ2
t
OLZ
t
CHZ1
t
CHZ2
t
OHZ
t
OH
R0201-BS62LV2006
4
修订版1.3
五月。
2006
