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介绍
表2-3 。信号说明（续）
终奌站
名字
复
信号名称
I / O / Z
功能
TEST /仿真销
IEEE 1149.1标准的测试时钟。 TCK通常是一个自由运行的时钟
信号具有50 ％的占空比。的测试访问端口（TAP ）的变化
输入信号TMS和TDI被移入TAP控制器，指令
注册，或者在TCK的上升沿选择的测试数据寄存器。变化
在TAP输出信号（ TDO ）发生在TCK的下降沿。
IEEE标准1149.1测试数据输入。引脚内部上拉电阻。 TDI是
上的上升沿锁存到所选寄存器（指令或数据）
TCK 。
IEEE标准1149.1的测试数据输出。所选择的内容
寄存器（指令或者数据）被移出TDO上的下降沿
TCK 。 TDO处于高阻抗状态时除外的扫描
数据正在进行中。
IEEE 1149.1标准的测试模式选择。引脚内部上拉电阻。
该系列控制输入移入TAP控制器上的上升沿
的TCK 。
IEEE 1149.1标准的测试复位。 TRST ，高的时候，给人的IEEE
该装置的操作的标准1149.1扫描系统的控制。如果
TRST未连接或驱动为低电平时，器件工作在它的功能
模式，和IEEE标准1149.1的信号被忽略。该引脚具有
内部下拉。
仿真0引脚。当TRST被拉低， EMU0要高的
激活的关断状态。当TRST被驱动至高电平， EMU0使用
作为一个中断或从仿真器系统，并且被定义为I / O通过的方式
的IEEE标准1149.1扫描系统。
仿真器1针/关闭所有输出。当TRST被驱动至高电平， EMU1 / OFF
作为一个中断或从仿真器系统，并且被定义为I / O的
由IEEE标准1149.1扫描系统的方式。当TRST被拉低，
EMU1 /关被配置为关闭。该EMU1 /断开信号，当
低电平有效，将所有输出驱动器进入高阻抗状态。注意
关闭专用于测试和仿真的目的（不是
多应用程序） 。因此，为OFF状态时，则
以下应用： TRST =低， EMU0 =高， EMU1 / OFF =低
PU
BK
RESET
条件
TCK
I
PU
H
输入
TDI
I
PU
输入
TDO
O / Z
高阻
TMS
I
输入
TRST
I
PD
FS
输入
EMU0
I / O / Z
PU
输入
EMU1/OFF
I / O / Z
PU
输入
I =输入， O =输出， S =供应，高阻=高阻抗
BK =总线保持（在总线保持在复位期间保持先前的电压电平或同时输出不会驱动引脚） ， PU =上拉，
PD =下拉， H =迟滞输入缓冲器， FS =故障安全缓冲区
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SPRS375C
2006年10月 - 修订2008年1月
