SCANPSC110F SCAN桥层次和多点可寻址的JTAG端口（ IEEE1149.1测试系统
支持）
1993年3月
修订后的2000年8月
SCANPSC110F
SCAN桥层次和多点寻址
JTAG端口（ IEEE1149.1测试系统支持）
概述
该SCANPSC110F大桥延伸的IEEE标准。 1149.1
测试总线为多点测试总线的环境。在研华
的分层方法塔格在一个单一的串行扫描
链是提高测试吞吐量并去除能力
从系统板和保留测试访问
其余的模块。每个SCANPSC110F桥支座
高达3本地扫描环可单独访问的
或组合串联。寻址是通过负载完成
荷兰国际集团的指令寄存器的值相匹配的
插槽输入。背板和板间的测试可以很容易地
停经当地TAP控制器的实现
通过一个园区的稳定TAP控制器状态中的一种指令
化。 32位TCK柜台启用内置自测试能操作
ations要上，而其他的扫描链中的一个端口进行
同时测试。
特点
s
真正的IEEE1149.1层次和多点寻址
能力
s
6个插槽输入支持多达59唯一地址，一个
播地址，和4的多播组地址
s
3 IEEE 1149.1兼容配置本地扫描端口
s
模式寄存器允许本地抽头被绕过，
选择用于插入到扫描链单独，或
串联的两个或三个基团
s
32位计数器TCK
s
16位线性反馈移位寄存器签名夯
s
L4
s
当地的TAP可以通过OE输入三态，以允许
另一种测试主采取局部水龙头控制
订购代码：
订单号
SCANPSC110FSC
包装数
M28B
包装说明
28引脚小外形集成电路（ SOIC ） ， JEDEC MS- 013 ，宽0.300
在磁带和卷轴可用的设备也。通过附加的后缀字母“X”的订货代码指定。
接线图
引脚说明
针
名字
TCK
B
TMS
B
TDI
B
TDO
B
TRST
S
(0,5)
OE
描述
背板测试时钟输入
背板测试模式选择输入
背板测试数据输入
背板测试数据输出
异步测试复位输入（低电平有效）
地址选择端口
本地扫描端口输出使能（低电平有效）
TCK
L(1–3)
本地端口测试时钟输出
TMS
L(1–3)
本地端口测试模式选择输出
TDI
L(1–3)
本地端口测试数据输入
TDO
L(1–3)
本地端口测试数据输出
2000仙童半导体公司
DS011570
www.fairchildsemi.com
