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ATF22LV10C(Q)Z
输入测试波形和
测量级别
输出测试负载
注意：
同类竞争对手的设备略有指定
不同的负载。这些负载差异可能会影响输出
信号“延时和压摆率。爱特梅尔器件的测试
有足够的余量，以满足兼容设备specifi-
阳离子条件。
引脚电容
F = 1MHz时， T = 25
°
C
(1)
典型值
C
IN
C
I / O
注意事项：
5
6
最大
8
8
单位
pF
pF
条件
V
IN
= 0V
V
OUT
= 0V
1.典型值标称电源电压。该参数仅取样，而不是100％测试。
上电复位
在ATF22LV10CZ / CQZ寄存器被设计成
在上电期间复位。在从V稍微延迟一点
CC
交叉V
RST
时，所有寄存器被复位到低状态。
的输出状态将取决于缓冲器的极性。
此功能对于状态机初始化的关键。
然而，由于复位的异步特性和
如何V的不确定性
CC
实际上升起在系统中，所述
需要满足以下条件：
1. V
CC
崛起必须是单调的，并开始
低于0.7V 。
2.时钟必须在t保持稳定
PR
.
3.经T
PR
所有的输入和反馈设置时间必须
驱动时钟引脚拉高之前得到满足。
电子签名字
有64比特的可编程存储器，总是
提供给用户，即使该设备被固定。这些
比特可用于用户特定的数据。
安全保险丝用途
单保险丝以防止未经授权的复制
的ATF22LV10CZ / CQZ保险模式。一旦亲
编程，保险丝验证和预紧被抑制。不过，
64位用户签名仍然可以访问。
安全保险丝应最后编程，因为它的效果
是即时的。
编程/擦除
使用标准进行编程/擦除
PL PR OGR上午MER秒。硒ê CM O 4 S P LD镨OGR时许分钟g
硬件&关于软件的信息，软件支持/
编程。
参数
T
PR
V
RST
描述
上电
复位时间
上电
复位电压
典型值
600
2.3
最大
1000
2.7
单位
ns
V
寄存器输出的预紧力
该ATF22LV10CZ / CQZ的寄存器设置与主电
cuitry以允许加载的每个寄存器具有高或
低。此功能将简化测试，因为任何国家都不可能
被迫进入寄存器来控制测试序列。一
生成JEDEC文件预紧时，源文件
与矢量编译。下载后， JEDEC文件
预紧序列会自动被大多数的完成
编程后批准的程序员。
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