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2兆位/ 4兆位的SPI串行闪存
SST25VF040
EOL产品数据表
AC测试输入在V驱动
IHT
(0.9V
DD
）为一个逻辑“1”和第五
ILT
(0.1V
DD
）为一个逻辑“0”。测量参考点
输入和输出是V
HT
(0.7V
DD
）和V
LT
(0.3V
DD
） 。输入上升和下降时间（ 10 ％
90％）是<5纳秒。
注意：
V
HT
- V
高
TEST
V
LT
- V
低
TEST
V
IHT
- V
输入
高测试
V
ILT
- V
输入
低测试
图20 ： AC输入/输出参考波形
TO测试仪
到DUT
C
L
1231 F20.0
图21 ：测试负载示例
2006硅存储技术公司
S71231(04)-00-000
10/06
20
