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莱迪思半导体公司
ispXPGA系列数据手册
CON组fi guration和编程
该ispXPGA系列器件采用了一种独特的方法来FPGA CON组fi guration内存。它包含两种类型的
存储器，静态RAM和非易失性
2
CMOS电池。的静态RAM用于控制的功能
正常运行和电子设备中
2
CMOS存储器单元被用来加载SRAM中。电子
2
CMOS内存
模块可以被认为是在硬盘驱动器的ispXPGA CON组fi guration和SRAM中作为工作CON组fi gura-
记忆时。有SRAM存储器和所述E之间的一对一关系
2
CMOS电池。该SRAM可
CON组fi gured无论是从E
2
CMOS存储器或从外部源，如图21 。
图21显示了在CON组fi guration的ispXPGA和编程中使用不同的端口和模式
设备。有可以使用的SRAM存储器的CON组fi guration两种可能的端口： ISP端哪个
支持IEEE 1149.1测试访问端口（ TAP ）标准型，可容纳位宽CON组fi guration 。该SYSCONFIG
允许SRAM CON组fi guration内存字节宽CON组fi guration端口。编程时电子
2
CMOS存储器，
只有1149.1 TAP可以使用。
CON组fi guration和编程通过1149.1测试访问端口（ TAP ）进行支持的IEEE标准。
1149.1边界扫描TAP特定网络阳离子和IEEE标准。 1532在系统CON组fi guration特定连接的阳离子。昆仑科幻G-
URE或程序使用1149.1 TAP设备必须是ISP模式的设备。昆仑连接gure的SRAM的MEM
储器使用sysconfig端口，设备必须在SYSCONFIG模式。上电时，该设备的SRAM
内存可以CON组fi gured无论是从E
2
CMOS存储器或从通过对sysCONFIG外部源
模式。此外，该SRAM的可重新CON组fi从E gured
2
CMOS存储器通过执行“ REFRESH ”。见
格技术说明数量TN1026 ，
ispXP CON组fi guration使用指南，
为更深入的信息，在昼夜温差
同的编程模式，定时唤醒，可在www.latticesemi.com 。
图21. ispXP框图
ISP 1149.1 TAP端口
PORT
SYSCONFIG外设端口
ISP
模式
Backgnd
1532
SYSCONFIG
程序设计
以秒为单位
CON组fi guration
以毫秒为单位
上电
E
2
CMOS
存储空间
存储空间
刷新
下载中
微秒
SRAM
存储空间
支持IEEE 1149.1边界扫描测试性
所有ispXPGA器件具有边界扫描单元和支持IEEE 1149.1标准。这使得功能测试 -
决于该设备被安装，通过串行扫描路径在电路板的可访问的所有关键逻辑
注释。内部边界扫描寄存器的内部连接，从而允许测试数据进行移位，并直接装
到测试节点，或测试节点数据被捕获和移出用于VERI音响阳离子。此外，这些装置可以是
链接到板级串行扫描路径的电路板级测试。
安全计划
设在ispXPGA器件的可编程安全方案作为一种威慑的未经授权的复制
数组CON组fi guration模式。一旦编程，安全方案防止回读编程
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