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APEX 20K可编程逻辑器件系列数据手册
的SignalTap
嵌入式
逻辑分析仪
APEX 20K器件包括设备的增强支持的SignalTap
嵌入式逻辑分析仪。通过包含该电路中， APEX 20K
设备提供了监控设计工作在一个周期的能力
时间过的IEEE标准。 1149.1 （JTAG ）电路;设计人员可以分析
在高速内部逻辑不使内部信号提供给I / O引脚。
此功能适用于高级包装等尤为重要
FINELINE BGA封装因为添加期间，以一销连接
调试过程可能是困难的一个板被设计后和
制造。
所有APEX 20K器件提供了JTAG BST电路，符合了
IEEE标准。 1149.1-1990规范。 JTAG边界扫描测试可以
在配置过程之前或配置之后进行的，但并非如此。
APEX 20K器件也可以使用JTAG端口用于与配置
Quartus II软件或硬件的使用或者Jam文件（的.jam ）或果酱
字节码文件（ .jbc ） 。最后， APEX 20K器件使用JTAG端口
监视装置的逻辑运算与嵌入的SignalTap
逻辑分析仪。 APEX 20K器件支持所示的JTAG指令
表19 。
虽然EP20K1500E设备支持JTAG旁路和
的SignalTap指令，它们不支持边界扫描测试或
使用JTAG端口进行配置。
IEEE标准。
1149.1 （JTAG）
边界扫描
支持
表19. APEX 20K JTAG指令
JTAG指令
采样/预
描述
允许在器件引脚信号的快照被捕获，并在检查
正常的设备操作，并允许初始的数据模式要被输出的设备
销。也使用的SignalTap嵌入式逻辑分析仪。
允许外部电路和板级互连通过强制进行测试
测试图案的输入引脚，输出引脚和捕获测试结果。
地之间的1位旁路寄存器
TDI
和
TDO
销，其允许的BST
数据通过在选定的设备，以相邻的设备同步传
器件正常工作。
选择32位USERCODE寄存器之间的地方，它
TDI
和
TDO
销，
让USERCODE进行串行移出
TDO 。
选择IDCODE寄存器之间放置它
TDI
和
TDO ，
允许
IDCODE进行串行移出
TDO 。
通过与MasterBlaster JTAG端口配置APEX 20K器件时使用
TM
或ByteBlasterMV
TM
下载电缆，或者使用果酱文件或Jam字节代码文件时
通过嵌入式处理器。
显示器内部设备的操作与使用SignalTap嵌入式逻辑分析仪。
EXTEST
绕行
(1)
USERCODE
IDCODE
ICR说明
的SignalTap说明
(1)
注意：
(1)
该EP20K1500E设备支持JTAG BYPASS指令和的SignalTap说明。
Altera公司。
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