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SN54BCT8374A ， SN74BCT8374A
扫描测试设备
与八D型边沿触发触发器
SCBS045E - 1990年6月 - 修订1996年7月
定时说明
在“ BCT8374A的所有测试操作都与TCK同步的。在TDI ， TMS数据，和正常功能的输入
被捕获在TCK的上升沿。数据显示在上的TDO和正常功能的输出端子
TCK下降的边缘。 TAP控制器通过它的状态前进，通过改变（见图1）
TMS在TCK的下降沿，然后施加一个上升沿TCK的价值。
一个简单的定时例子示于图8中。在本实施例中，TAP控制器开始在测试逻辑复位
状态，并通过其在必要时的状态前进到执行一个指令寄存器扫描和一个
数据寄存器扫描。而在Shift -IR和移位DR各州， TDI是用于输入的串行数据和TDO用于
到输出串行数据。 TAP控制器，然后返回到Test- Logic-Reset状态。表4说明了
每个TCK周期期间测试电路的操作。
表4.时序示例说明
TCK
周期（S ）
1
2
3
4
5
6
TAP状态
TCK后
测试逻辑复位
运行测试/空闲
选择DR扫描
选择红外扫描
捕获红外
按住Shift -IR
红外捕捉在TCK的上升沿8位二进制值10000001的TAP控制器退出
捕捉- IR状态。
TDO变得活跃和TDI是由有效TCK的下降沿。第一位被移入TAP
在TCK为TAP控制器的上升沿进行到下一状态。
一位被移入每个TCK上升沿的IR 。与处于逻辑1值保持TDI， 8位的二进制值
11111111串联扫描到红外。同时，在8位二进制值10000001串行扫描
出通过TDO红外的。在TCK周期13 ，TMS改变为逻辑1值，结束于下一个红外扫描
TCK周期。该指令的最后一位也发生了变化，从移位IR TAP控制器进入到退出1- IR 。
TDO变为无效（进入高阻抗状态）在TCK的下降沿。
红外与在TCK的下降沿新指令（ BYPASS ）更新。
旁路寄存器捕捉逻辑0值在TCK上升沿，TAP控制器退出
Capture-DR状态。
TDO变得活跃和TDI是由有效TCK的下降沿。第一位被移入TAP
在TCK为TAP控制器的上升沿进行到下一状态。
二进制值101通过TDI的偏移，而二进制值010是通过TDO移出。
TDO变为无效（进入高阻抗状态）在TCK的下降沿。
在一般情况下，所选择的数据寄存器与在TCK的下降沿的新数据进行更新。
描述
TMS被改变为逻辑0值在TCK的下降沿开始推进TAP控制器朝
所期望的状态。
7–13
按住Shift -IR
14
15
16
17
18
19–20
21
22
23
24
25
Exit1-IR
更新IR
选择DR扫描
捕捉-DR
按住Shift -DR
按住Shift -DR
Exit1-DR
更新DR
选择DR扫描
选择红外扫描
测试逻辑复位
试运行完成
14
邮政信箱655303
达拉斯，德克萨斯州75265
