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SN54BCT8374A ， SN74BCT8374A
扫描测试设备
与八D型边沿触发触发器
SCBS045E - 1990年6月 - 修订1996年7月
D
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德州仪器成员
范围
家庭可测性产品
八路测试，集成电路
功能上等同于' F374和
在正常功能模式“ BCT374
兼容IEEE标准
1149.1-1990 （ JTAG ）测试访问端口和
边界扫描结构
试运行同步到测试
访问端口（TAP ）
实现可选的测试复位信号由
认识一个双高电平电压
（ 10 V ）的TMS引脚
范围
指令集
- IEEE标准1149.1-1990要求
说明，可选INTEST ， CLAMP ，
和HIGHZ
- 在输入并行信号分析
- 伪随机模式生成
从输出
- 采样输入/输出切换
封装选择包括塑料
小外形（ DW ）封装，陶瓷
芯片载体（ FK ）和标准塑料
（ NT）和陶瓷（ JT ） 300密耳的DIP
SN54BCT8374A 。 。 。 JT包装
SN74BCT8374A 。 。 。 DW或NT包装
（ TOP VIEW ）
CLK
1Q
2Q
3Q
4Q
GND
5Q
6Q
7Q
8Q
TDO
TMS
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
24
23
22
21
20
19
18
17
16
15
14
13
OE
1D
2D
3D
4D
5D
V
CC
6D
7D
8D
TDI
TCK
SN54BCT8374A 。 。 。 FK包装
（ TOP VIEW ）
描述
与八进制的“ BCT8374A扫描测试设备
边沿触发的D型触发器的成员
德州仪器SCOPE 可测性
集成电路的家庭。该系列器件
支持IEEE标准1149.1-1990边界
扫描，以方便复杂的电路板测试
集会。扫描获得的测试电路是
通过4线测试访问端口来实现
（TAP）接口。
2D
1D
OE
NC
CLK
1Q
2Q
5
6
7
8
9
3D
4D
5D
NC
V
CC
6D
7D
4
3 2 1 28 27 26
25
24
23
22
21
20
10
11
19
12 13 14 15 16 17 18
8D
TDI
TCK
NC
TMS
TDO
8Q
NC - 无内部连接
在正常模式中，这些设备在功能上等同于“ F374和' BCT374八D型触发器。
测试电路可通过在TAP被激活以采取出现在设备中的数据的快照样品
终端或上边界的测试电池进行自测。激活在正常模式下在TAP不影响
在SCOPE 八进制触发器的功能操作。
在测试模式中，所述范围的正常运行进制触发器被抑制，测试电路被使能
观察和控制该设备的I / O的边界。当启用时，测试电路可以执行
如在IEEE标准1149.1-1990中所述边界扫描测试操作。
请注意，一个重要的通知有关可用性，标准保修，并且在关键的应用程序中使用
德州仪器公司的半导体产品和免责条款及其出现在此数据表的末尾。
SCOPE是德州仪器的商标。
PRODUCTION数据信息为出版日期。
产品符合每德州仪器条款规范
标准保修。生产加工并不包括
所有测试参数。
邮政信箱655303
达拉斯，德克萨斯州75265
3Q
4Q
GND
NC
5Q
6Q
7Q
版权
1996年，德州仪器
关于产品符合MIL -PRF- 38535 ，所有参数进行测试
除非另有说明。在所有其他产品，生产
加工不一定包括所有参数进行测试。
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