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PHASE 4
— V
DD
转让 - 时钟的第四阶段
连接C的负极端子
2
到GND ，
并把这种积极产生的电压
C两端
2
到C
4
中，V
DD
储能电容。这
电压调节至+ 5.5V 。在该电压，
内部振荡器将被禁用。同时
随着电压到C的传递
4
中，正
电容器C的侧
1
被切换到V
CC
和
负端连接到GND ，从而使
充泵循环再次开始。充电
泵循环将继续，只要操
为内部振荡器tional条件
目前。
由于两个V
+
和V
–
分别生成
从V
CC
;在无负载条件V
+
和V
–
将
是对称的。旧的电荷泵方式
产生V
–
从V
+
将显示在下降
Ⅴ的大小
–
相比于V
+
由于该
固有的低效率的设计。
时钟速率为电荷泵通常
工作在250kHz的。外部电容器可
低至0.1μF具有16V击穿
额定电压。
ESD容差
该
SP3222E/3232E
系列采用
坚固耐用的ESD细胞上的所有驱动器输出和
接收器输入管脚。该ESD结构
改善了我们以前的家人更多
坚固耐用的应用和环境敏感
对静电放电和相关
瞬变。改进的ESD容差为
至少
±15kV
无损坏，也不闭锁。
有ESD测试的不同的方法
应用：
一） MIL -STD- 883 ，方法3015.7
B） IEC1000-4-2气隙放电
C） IEC1000-4-2直接联系
人体模型已普遍
接受ESD测试方法semiconduc-
器。该方法在MIL -STD-还指定
883 ，方法3015.7进行ESD测试。前提
这种静电放电的测试是模拟人体的
日期： 05年2月24日
潜在存储静电能量和
其排出到一个集成电路。该
模拟是通过使用一个测试模型进行
所示
图17 。
这个方法将测试
IC的能力承受ESD瞬变
在正常操作期间，例如在制造
被处理，其中集成电路趋向区
频繁。
在IEC- 1000-4-2 ，以前称为IEC801-2，
一般用于设备的ESD测试
和系统。对于系统制造商，他们
必须保证一定量的ESD
保护，因为系统本身被暴露于
外部环境和人的存在。
与IEC1000-4-2的前提是，
系统需要能够承受的量
当静电被施加到分静电
而且，它们是设备的表面
在正常使用过程中接触到的人员。
该收发器IC接收大部分的ESD
当前当ESD源被施加到
连接器插针。该测试电路为IEC1000-4-2
示出上
图18 。
有两种方法
在IEC1000-4-2 ，排气方法
和接触放电方法。
与空气放电法，防静电
电压下施加到设备
通过空中测试（ EUT ） 。这模拟的
充电的人准备连接
线缆到系统的后端才发现
就在人面前不愉快的ZAP
接触后面板。高能量
对人的潜在排放通
一个电弧放电路径到系统的后面板
之前，他或她甚至接触到系统中。这
能量，无论是直接或通过排出
空气，主要是放电的功能
电流而不是放电电压。
用空气排出，如变量
物体的接近速度实现ESD
潜在的系统和湿度将趋于
改变放电电流。例如，该
上升时间的放电电流随
进近速度。
SP3222E ， SP3232E真+3.0至+ 5.0V的RS - 232收发器
2005 Sipex的公司
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