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8兆位（ X16 ）多用途闪存
SST39WF800B
数据表
VIHT
输入
VIT
参考点
VOT
产量
VILT
1344 F14.0
AC测试输入在V驱动
IHT
(V
DD
）为一个逻辑“1”和第五
ILT
(V
SS
）为一个逻辑“0” 。对于输入的测量参考点
并输出为V
IT
(0.5 V
DD
）和V
OT
(0.5 V
DD
） 。输入上升和下降时间（ 10 ％
90％） <5纳秒。
注意：
V
IT
- V
输入
TEST
V
OT
- V
产量
TEST
V
IHT
- V
输入
高测试
V
ILT
- V
输入
低测试
图14 ： AC输入/输出参考波形
V
DD
TO测试仪
25KΩ
到DUT
CL
25KΩ
1344 F15.0
图15 ：测试负载示例
2007硅存储技术公司
S71344-00-000
2/07
18
