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MBM29F080A
-55/-70/-90
s
AC特性
只读操作特性
参数
读周期时间
地址输出延迟
芯片使能到输出延迟
输出使能到输出延迟
芯片使能输出高-Z
输出使能到输出高阻
符号
JEDEC标准
t
AVAV
t
AVQV
t
ELQV
t
GLQV
t
EHQZ
t
GHQZ
t
RC
t
加
t
CE
t
OE
t
DF
t
DF
t
OH
t
准备
TEST
格局
—
CE = V
IL
OE = V
IL
OE = V
IL
—
—
—
—
—
-55 *
1
55
—
—
—
—
—
0
—
—
55
55
30
20
20
—
20
-70 *
2
70
—
—
—
—
—
0
—
—
70
70
30
20
20
—
20
-90 *
2
民
90
—
—
—
—
—
0
—
最大
—
90
90
40
20
20
—
20
单位
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
s
最小值最大值最小值最大值
输出保持时间从地址，
t
AXQX
CE或OE ，先到为准
RESET引脚为低电平阅读模式
—
* 1 ：测试条件：
输出负载： 1 TTL门和30 pF的
输入上升和下降时间： 5ns的
输入脉冲电平： 0.0 V或3.0 V
定时测量参考电平
输入： 1.5 V
输出： 1.5 V
* 2 ：测试条件：
输出负载： 1 TTL门和100 pF的
输入上升和下降时间： 5ns的
输入脉冲电平： 0.45 V或2.4 V
定时测量参考电平
输入： 0.8 V和2.0 V
输出： 0.8 V和2.0 V
5.0 V
Diode=1N3064
或同等学历
设备
下
TEST
6.2 k
C
L
Diode=1N3064
或同等学历
2.7 k
注意事项：
MBM29F080A - 55 ：C
L
= 30 pF包括夹具电容
MBM29F080A - 70 / -90 ：C
L
= 100 pF包括夹具电容
测试条件
23
