ISL54208
测试电路和波形
（续）
V
DD
t
ri
90%
DIN +
DIN-
90%
50%
10%
t
fi
t
ro
90%
10%
OUT +
OUT-
90%
t
f0
50%
t
skew_o
50%
10%
GND
DIN-
143Ω
10%
50%
t
skew_i
DIN +
143W
15.8Ω
COM2
NO2
C
L
V
DD
15.8Ω
CTRL
IN
COM1
NO1
C
L
OUT +
45Ω
OUT-
45Ω
C
|卓 - 三|延时由于开关输入瑞星和瑞星的输出信号。
| TFO - TFI |延时由于开关的下降输入和下降沿输出信号。
| tskew_0 |通过开关输出信号的变化倾斜。
| tskew_i |通过切换输入信号变化的倾斜。
图7a 。测量点
图7.偏移测试
图7B 。测试电路
7
FN6410.0
二○○六年十二月一十八日
