ADF4360-1
MUXOUT和锁定检测
上ADF4360家族的输出多路转换器允许用户
访问该芯片上的各种内部点。状态
MUXOUT由M3 ，M2和M1的功能控制
锁存器。全真值表显示在表7中。图13示出了
以方框图形式的MUXOUT部分。
表5. C2和C1真值表
C2
0
0
1
1
控制位
C1
0
1
0
1
数据锁存器
控制锁存
v计数器
N计数器（ A和B）
测试模式锁存
锁定检测
MUXOUT可以被编程为两种类型的锁的检测：
数字和模拟。数字锁定检测为高电平有效。当LDP
在R计数器锁存器被设置为0，数字锁定检测，则设定为高
当在3个连续相位检测周期中的相位误差
小于15纳秒。
与LDP设置为1，五个连续的小于15纳秒的周期
所需的相位误差，设置锁定检测。它将保持该状态
高，直到大于25纳秒的相位误差被上检测到的任何
随后PD周期。
N沟道开漏模拟锁定检测应该是能操作
ated为10 kΩ的标称外部上拉电阻。当
锁已被检测到，则该输出将是高的窄
低脉冲。
DV
DD
VCO
在ADF4360系列的VCO核心采用8重叠
带，如图14 ，以允许在较宽的频率范围，以
被覆盖而不需要大的VCO的灵敏度（K
V
），并得到
可怜的相位噪声和杂散性能。
正确的带自动选择由乐队选择
逻辑上电时，或者当N计数器锁存器被更新。它
重要的是将正确的写序列随后在
电。这个序列是
1.
2.
3.
v计数器锁存
控制锁存
N计数器锁存
模拟锁定检测
数字锁定检测
v计数器输出
N计数器输出
SDOUT
04414-0-013
在频段选择，这需要5 PFD周期中， VCO V
TUNE
从该环路滤波器的输出端断开，并且连接
与内部参考电压。
MUXOUT
MUX
控制
3.0
2.8
2.6
2.4
2.2
2.0
电压（V）的
DGND
1.8
1.6
1.4
1.2
1.0
0.8
0.4
04414-0-014
图13. MUXOUT电路
输入移位寄存器
该ADF4360系列的数字部分包括一个24位输入
移位寄存器，14位R计数器和一个18位N计数器，COM的
撬一个5位计数器和一个13位B计数器。数据
移入在CLK的每个上升沿的24位移位寄存器。
该数据被移入MSB在前。数据被从传输
移位寄存器来对LE的上升沿四个锁存器之一。该
目的地锁存器由两个控制的状态确定
位（C2 ， C1），在移位寄存器中。这是两个LSB -DB1 ，
DB0 -如在图2中示出。
这些位的真值表被示于表5表6示出了
如何锁存器被编程的一个总结。需要注意的是
测试模式锁存器是用于工厂测试，不应该
由用户编程。
0.6
0.2
1850
1900
1950
2000
2050
2100
2150
2200
2250
2300
2350
2400
2450
2500
2550
频率（MHz）
图14.频率与V
TUNE
， ADF4360-1
R计数器输出作为时钟进行频带选择逻辑
且不应超过1兆赫。提供可编程分频器
在R计数器的输入，以允许除以1 ，2，4 ，或8是传
由位BSC1和BSC2在R计数器锁存控制。凡
需要PFD频率超过1 MHz时，分频比应为
设置足够的时间让正确的波段选择。
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