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M28R400CT - KGD ， M28R400CB - KGD
产品测试流程
图5中。
给出了ST的已知良好的概述
模具测试流程。
意法半导体执行质量保证
程序在整个产品的测试流程。在AD-
DITION ，离线质量监控程序im-
图5.产品测试流程
执行完成，以确保ST的质量标准
满足于已知合格芯片产品。
与ST的质量程序，已知合格芯片
产品可以在不需要老化测试来制造
IN 。
晶圆排序1
DC参数
的功能
可编程性
可擦
在250℃下烘烤24小时
数据保留
晶圆分类2
DC参数
的功能
可编程性
可擦
在250℃下烘烤12小时
DC参数
的功能
可编程性
可擦
速度
视觉检测取样
晶圆包
ai08366
晶圆排序3高温
包装和运输
7/11
