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初步的技术数据
测试电路
V
I
S
（关闭）
I
D
（关闭）
S
D
A
04779-0-021
ADG1404
I
D
（上）
NC
S
D
A
V
D
04779-0-022
S
D
04779-0-020
A
I
DS
V
S
V
S
V
D
NC =无连接
图21.测试电路1 ，导通电阻
图22.测试电路2 ，关闭泄漏
图23.测试电路3对泄漏
0.1F
V
DD
V
SS
0.1F
地址
DRIVE （V
IN
)
S1
S2
S3
S4
D
V
S1
3V
50%
0V
50%
V
DD
V
SS
A1
V
S
A0
V
S4
V
OUT
R
L
50
C
L
35pF
V
OUT
90%
90%
04779-0-023
+2.4V
EN
GND
t
过渡
t
过渡
图24.测试电路的4位地址输出开关时间
0.1F
V
DD
V
SS
0.1F
3V
0V
V
DD
V
SS
A1
V
S
50
A0
S1
S2
S3
S4
D
GND
R
L
50
C
L
35pF
V
S1
地址
DRIVE （V
IN
)
+2.4V
EN
t
BBM
图25.测试电路5 ，先开后合式时间
0.1F
V
DD
V
SS
0.1F
启用
DRIVE （V
IN
)
3V
50%
0V
50%
V
DD
V
SS
A1
A0
S1
S2
S3
S4
D
GND
50
R
L
50
C
L
35pF
V
S
V0
产量
V
OUT
0V
0.9V0
0.9V0
04779-0-025
EN
V
S
t
ON （ EN ）
t
OFF （ EN ）
延时。
图26.测试电路6 ，启用到输出开关延迟
牧师PRB |第13页17
04779-0-024
V
OUT
V
OUT
80%
80%
