8兆位闪存LPC
SST49LF080A
数据表
A
14-0
（内部A
MS-0
)
R / C＃
OE ＃
WE＃
DQ
7-0
5555
2AAA
5555
T
IDA
AA
55
F0
1235 F26.0
图27 ：软件ID退出（ PP模式）
VIHT
输入
VIT
参考点
VOT
产量
VILT
1235 F27.0
AC测试输入在V驱动
IHT
(0.9 V
DD
）为一个逻辑“1”和第五
ILT
(0.1 V
DD
）为一个逻辑“0”。测量参考
输入和输出点V
IT
(0.5 V
DD
）和V
OT
(0.5 V
DD
） 。输入上升和下降时间（ 10 ％
90％）是<3纳秒。
注意：
V
IT
- V
输入
TEST
V
OT
- V
产量
TEST
V
IHT
- V
输入
高测试
V
ILT
- V
输入
低测试
图28 ： AC输入/输出参考波形
TO测试仪
到DUT
CL
1235 F28.0
图29 ：测试负载示例
2006硅存储技术公司
S71235-02-000
5/06
39
