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ST72334J / N ， ST72314J / N ， ST72124J
9.1低电压检测（ LVD ）
为了让电源管理的整合
在应用中，低电压探测器的功能
器功能（ LVD ）生成静态复位时
在V
DD
电源电压低于V
IT-
参考
值。这意味着，它固定在通电时作为
还有掉电保持ST7复位。
在V
IT-
对于一个电压降基准值是低级
比V
IT +
参考值的上电，以便
为了避免寄生复位时， MCU开始运行 -
宁和吸收电流的电源（滞后） 。
在LVD复位电路产生一个复位时
V
DD
如下图：
– V
IT +
当V
DD
正在崛起
– V
IT-
当V
DD
正在下降
LVD功能则说明
图13 。
所提供的最小V
DD
值（保证
振荡器的频率）为高于V
IT-
，该MCU
只能在以下两种模式：
- 在完整的软件控制
- 静态安全复位
图13.低电压检测复位VS
V
DD
在这些情况下，安全的操作总是烯
sured为应用程序，而无需为前
ternal重置硬件。
在一个低电压检测复位，复位
引脚保持为低电平，从而使单片机复位
其他设备。
注意事项：
1. LVD允许在不使用的设备
任何外部复位电路。
2个不同的参考电平可选择
通过根据应用程序的选项字节
化的要求。
LVD应用笔记
应用软件可以检测造成复位
在LVD通过读取CRSR的LVDRF位
注册。
该位由硬件置时， LVD复位
产生并通过软件（写入0 ）清零。
V
HYST
V
IT +
V
IT-
RESET
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