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GS882Z18/36BB/D-333/300/250/200/150
禁用JTAG端口
因此能够使用该设备，而无需使用JTAG端口。该端口上电复位，并仍然无效，除非
主频。 TCK ， TDI ， TMS和设计有内部上拉circuits.To保证内存的正常工作与JTAG
未使用的端口， TCK ， TDI ， TMS和可悬空或绑在V
DD
或V
SS
。 TDO悬空。
JTAG端口寄存器
JTAG引脚说明
针
TCK
TMS
引脚名称
测试时钟
测试模式选择
I / O
In
In
描述
时钟的所有TAP事件。所有的输入被捕获在TCK的上升沿和所有输出传播
从TCK的下降沿。
TMS输入进行采样，在TCK的上升沿。这是TAP输入的命令
控制器状态机。一个为非驱动，TMS输入将产生相同的结果作为一个逻辑1输入
的水平。
TDI输入进行采样，在TCK的上升沿。这是串行寄存器的输入侧
放置TDI和TDO之间。置于TDI和TDO之间的寄存器由确定
TAP控制器状态机的指令是在TAP当前负载状态
指令寄存器（参见TAP控制器状态图） 。无驱动TDI引脚会产生
相同的结果为逻辑1输入电平。
TDI
测试数据
In
TDO
测试数据输出
输出取决于TAP状态机的状态是积极的。在输出的变化
出回应TCK的下降沿。这是串行寄存器之间放置的输出侧
TDI和TDO 。
注意：
此设备不具有TRST （ TAP复位）引脚。 TRST是可选的IEEE 1149.1 。测试逻辑复位状态进入，而TMS是
达5个TCK上升沿保持高电平。 TAP控制器处于复位也是全自动的电。
概观
各种JTAG寄存器，当作测试访问端口orTAP寄存器，通过1s的顺序选择（一次一个）
和施加到TMS为TCK 0被选通。每个TAP寄存器是一个串行移位寄存器，用于捕获在串行输入数据
TCK上升边缘，并推动串行数据在TCK的下一个下降沿。当一个寄存器被选择时，它被放置的
TDI和TDO引脚。
指令寄存器
指令寄存器保存了由TAP控制器执行的指令，当它被移动到运行，测试/空闲，或
的各种数据的寄存器状态。指令是3位长。指令寄存器可以当它被放置的装
TDI和TDO引脚。在上电时或当指令寄存器会自动预装IDCODE指令
控制器处于测试逻辑复位状态。
旁路寄存器
旁路寄存器是一个位寄存器，可置于TDI和TDO之间。它允许串行测试数据通过传递
该内存的JTAG端口到另一个设备在扫描链尽可能少延误的可能。
边界扫描寄存器
的边界扫描寄存器是触发器，可以通过在RAM上的输入或I / O引脚中发现的逻辑电平被预设的集合。
该触发器，然后菊花链方式连接在一起，使发现的水平可串行移出JTAG口的TDO引脚。该
边界扫描寄存器还包括一定数量的占位触发器（总是被设置为逻辑1） 。之间的关系
器件引脚和边界扫描寄存器的位扫描顺序表如下所述。边界扫描
寄存器， TAP控制器的控制下，将装入RAM的I / O环中的内容时，控制器在
Capture-DR状态，然后放置在TDI和TDO引脚之间当控制器移动到Shift-DR状态。样品-Z ，
SAMPLE / PRELOAD和EXTEST指令可以用来激活边界扫描寄存器。
冯： 1.02 10/2004
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2001年， GSI技术
规格援引如有更改，恕不另行通知。对于最新的文档，请参见http://www.gsitechnology.com 。
