K9F5608R0D
K9F5608U0D K9F5608D0D
输入数据锁存周期
t
CLH
CLE
FL灰内存
t
CH
CE
t
ALS
ALE
t
WC
WE
t
DS
I /牛
t
WH
t
DH
t
DS
t
DH
≈
t
WP
t
WP
t
WP
t
DH
t
DS
≈
嚣0
DIN 1
DIN
t
RC
经过连续读出周期
（ CLE = L ， WE = H ， ALE = L）
≈
CE
t
REA
RE
≈
t
REH
t
RP
t
RHZ *
I /牛
t
RR
R / B
DOUT
DOUT
≈
t
REA
t
REA
t
CHZ *
t
OH
t
RHZ *
t
OH
DOUT
注意事项：
转换测量
±200mV
从稳态电压与负载。
这个参数进行采样，而不是100 ％测试。
21
≈
≈
