位置：首页 > IC型号导航 > 首字符C型号页 > 首字符C的型号第877页 > CD74HC4051ME4 > CD74HC4051ME4 PDF资料 > CD74HC4051ME4 PDF资料5第12页
“ HC4051 ， ” HCT4051 ， “ HC4052 ， CD74HCT4052 ， ” HC4053 ， CD74HCT4053
测试电路和波形
V
CC
V
IS
R
输入
0.1F
开关
ON
R
V
CC
V
OS
V
CC
50
10pF
dB
计
R
f
IS
= 1MHz的SINEWAVE
R = 50
C = 10pF的
C
V
OS1
V
CC
/2
V
IS
0.1F
开关
ON
开关
关闭
R
C
V
OS2
dB
计
V
CC
/2
V
CC
/2
V
CC
/2
图3频响测试电路
图4.之间的串扰双管测试
电路
E
V
CC
V
I
= V
IH
正弦
WAVE
V
IS
开关
ON
10k
50pF
V
IS
V
OS
失真
计
V
CC
/2
600
V
CC
V
OS
开关
交流
打开和关闭
t
r
, t
f
≤
6ns
f
CONT
= 1MHz的
50 ％的占空
周期
V
OS
600
V
CC
/2
50pF
范围
V
P-P
10F
f
IS
= 1kHz至10kHz的
V
CC
/2
图5. SINEWAVE畸变测试电路
图6.控制合闸FEEDTHROUGH噪声
测试电路
V
CC
0.1F
V
IS
R
V
C
= V
IL
开关
关闭
R
f
IS
≥
1MHz的SINEWAVE
R = 50
C = 10pF的
V
OS
dB
计
C
V
CC
/2
V
CC
/2
图7.开关关断信号FEEDTHROUGH
12
