SN54ABT8646 ， SN74ABT8646
与扫描测试设备
八路总线收发器和寄存器
SCBS123E - 1992年8月 - 修订1996年7月
状态图描述
TAP控制器是一个同步有限状态机，可在整个设备的测试控制信号。
在图2所示的状态图是按照IEEE标准1149.1-1990 。 TAP控制器
通过它的状态进入以TMS为基准的在TCK的上升沿的水平。
如图所示，在TAP控制器包括16个状态。有六个稳定状态（通过在一个循环箭头所示
状态图）和十个不稳定的状态。一个稳定的状态是TAP控制器可以保留连续
TCK周期。不符合这一标准的任何状态是不稳定的状态。
有通过状态图两个主要途径： 1访问并控制所选择的数据寄存器，并
1来访问和控制的指令寄存器。只有一个寄存器可以同时被访问。
测试逻辑复位
该器件在测试逻辑复位状态。在稳定的测试逻辑复位状态，测试逻辑复位
并且被禁用，从而使设备的正常逻辑函数被执行。指令寄存器复位到
操作码的选择可选的IDCODE指令，如果支持的话，或者BYPASS指令。某些数据
也寄存器可以复位到电值。
状态机在没有更多的构造使得TAP控制器返回到测试逻辑复位状态
超过五个TCK周期，如果TMS是左高。 TMS管脚有一个内部上拉电阻，如果离开迫使它高
未连接或电路板缺陷，导致其对开路。
对于“ ABT8646 ，指令寄存器复位为二进制值11111111 ，它选择的BYPASS
指令。在边界扫描寄存器的每一位被重置为逻辑0的边界控制寄存器复位为
二进制值00000000010 ，它选择PSA测试操作在没有输入掩蔽。
运行测试/空闲
在执行任何测试之前， TAP控制器必须通过运行测试/空闲状态（从测试逻辑复位）
操作。运行测试/空闲状态下也可以按照数据寄存器或指令寄存器扫描输入。
运行测试/空闲状态是稳定的状态，其中，测试逻辑可以是主动运行一个测试，或者可以是空闲的。
由边界控制寄存器中所选的测试操作时所执行的TAP控制器处于
运行测试/空闲状态。
选择DR扫描，选择- LR-扫描
没有具体的功能在选择DR扫描进行，选择- LR-扫描状态， TAP控制器退出
在下一个TCK周期这些状态之一。这些州允许的选择无论是数据寄存器扫描或
指令寄存器扫描。
捕捉-DR
当选择一个数据寄存器扫描， TAP控制器必须通过Capture-DR状态。在
Capture-DR状态，所选择的数据寄存器可以捕获指定当前指令的数据值。
发生在TCK的上升沿，在其TAP控制器退出拍摄等操作
Capture-DR状态。
按住Shift -DR
在进入到Shift-DR状态，数据寄存器被放置在TDI和TDO之间的扫描路径，在
第一下降TCK的边缘，TDO随着从高阻抗状态到激活状态。 TDO使该逻辑
电平存在于所述选择的数据寄存器中的至少-显著位。
而在稳定的Shift-DR状态中，数据通过串行所选数据移位寄存器在每个TCK周期。
第一个转变发生在TCK进入到Shift-DR状态后的第一个上升沿（即在没有发生转移
在TCK周期中，从Capture -DR TAP控制器更改为Shift -DR或退出2 -DR为Shift -DR ） 。
最后的转变发生在TCK的上升沿，在其TAP控制器退出Shift-DR状态。
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