SN54ABT8646 ， SN74ABT8646
与扫描测试设备
八路总线收发器和寄存器
SCBS123E - 1992年8月 - 修订1996年7月
D
D
D
D
德州仪器成员
范围
家庭可测性产品
兼容IEEE标准
1149.1-1990 （ JTAG ）测试访问端口和
边界扫描结构
功能上等同于' F646和
在正常功能模式“ ABT646
SN54ABT8646 。 。 。 JT包装
SN74ABT8646 。 。 。 dl或DW包装
（ TOP VIEW ）
范围
指令集
- IEEE标准1149.1-1990要求
说明，可选INTEST ， CLAMP ，
和HIGHZ
- 在输入并行信号分析
用蒙版选项
- 伪随机模式生成
从输出
- 采样输入/输出切换
- 二进制计数从输出
- 偶校验操作码
每个I / O两个边界扫描单元
更大的灵活性
国家的最先进的
EPIC-
ΙΙ
B
BiCMOS工艺设计
显著降低了功耗
封装选择包括塑料
小外形（ DW ）和收缩
小外形（ DL ）封装，陶瓷片
电信运营商（ FK ）和标准的陶瓷DIP封装
（ JT ）
OE
SBA
CLKBA
CLKAB
SAB
DIR
A1
CLKAB
SAB
DIR
A1
A2
A3
GND
A4
A5
A6
A7
A8
TDO
TMS
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CLKBA
SBA
OE
B1
B2
B3
B4
V
CC
B5
B6
B7
B8
TDI
TCK
D
D
D
SN54ABT8646 。 。 。 FK包装
（ TOP VIEW ）
B1
B2
B3
B4
V
CC
B5
B6
5
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4
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描述
在“ ABT8646和扫描测试设备与八进制
总线收发器和寄存器的成员
得克萨斯州
仪器
SCOPE
可测性
集成电路的家庭。该系列器件
支持IEEE标准1149.1-1990边界
扫描，以方便复杂的电路板测试
集会。扫描获得的测试电路是
通过4线测试访问端口来实现
（TAP）接口。
B7
B8
TDI
TCK
TMS
TDO
A8
在正常模式中，这些设备在功能上等同于“ F646和' ABT646八进制总线收发器
和寄存器。测试电路可通过在TAP被激活以取出现的数据的快照样品
在器件引脚或在边界测试电池进行自检。激活TAP在正常模式下不
不影响SCOPE 八路总线收发器和寄存器的功能操作。
请注意，一个重要的通知有关可用性，标准保修，并且在关键的应用程序中使用
德州仪器公司的半导体产品和免责条款及其出现在此数据表的末尾。
范围和EPIC- ΙΙB是德州仪器的商标。
PRODUCTION数据信息为出版日期。
产品符合每德州仪器条款规范
标准保修。生产加工并不包括
所有测试参数。
邮政信箱655303
达拉斯，德克萨斯州75265
A2
A3
GND
A4
A5
A6
A7
版权
1996年，德州仪器
关于产品符合MIL -PRF- 38535 ，所有参数进行测试
除非另有说明。在所有其他产品，生产
加工不一定包括所有参数进行测试。
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