介绍
表2-2 。信号说明（续）
信号
名字
TYPE
其他
描述
中断和复位信号
RESET
I
C
设备复位。
RESET使DSP终止执行并引起的重新初始化
CPU和外设。在DSP复位后的响应由RST_MODE销来确定。
设备复位模式控制。
RST_MODE控制了设备复位处理。
RST_MODE
I
作为修订版2.1中， RST_MODE功能将不再得到支持。 RST_MODE会
驱动为低电平内部。复位后， CPU将跳转到复位向量开始执行。
在RST_MODE引脚的外部状态，将会对设备的操作没有影响。
INT0
INT1
INT2
INT3
INT4
INT5
NMI
I
C
可屏蔽外部中断。
INT0 - INT5的优先级，并通过可屏蔽中断
使能寄存器（ IER0和IER1 ）和中断模式位（ INTM在ST1_55 ） 。 INT0- INT5可以
轮询并通过中断标志寄存器（ IFR0和IFR1 ）复位。
I
C
不可屏蔽的外部中断。
NMI是一个外部中断不能被屏蔽
中断使能寄存器（ IER0和IER1 ） 。当NMI被激活时，该中断是始终
进行。
JTAG仿真
IEEE 1149.1标准的测试时钟。
TCK是通常具有50％占空比的自由运行的时钟信号
周期。输入信号TDI和TMS的测试访问端口（ TAP ）的变化移入
TAP控制器，指令寄存器，或者选择的测试数据在TCK的上升沿注册。
发生在TCK的下降沿处抽头输出信号TDO变化。
IEEE标准1149.1测试数据输入。
TDI移入选择寄存器（指令或者
数据）在TCK的上升沿。
IEEE标准1149.1的测试数据输出。
所选择的寄存器的内容（指令或
数据）被移出TDO在TCK的下降沿。 TDO的是，除了高阻抗状态
当数据的扫描正在进行中。
IEEE 1149.1标准的测试模式选择。
该系列控制输入移入TAP
控制器在TCK的上升沿。
IEEE 1149.1标准的测试复位。
TRST ，高的时候，给人的IEEE标准1149.1扫描系统
控制该装置的操作。如果TRST未连接，或者驱动为低电平时，器件工作
在其功能模式，并在IEEE标准1149.1的信号被忽略。
该引脚具有片上下拉电路提供引脚的控制时，它不是外部
连接。外部上拉电阻不应连接到该引脚。
TCK
I
A，C
TDI
I
A
TDO
O
TMS
I
A
TRST
I
B
I =输入， O =输出， S =供应， Z =高阻抗
其它引脚特性：
A - 内部上拉（总是允许）
ê - 引脚处于HOLD模式高阻抗（由于保持引脚） 。
B - 内部下拉（总是允许）
的F - 引脚处于关闭模式高阻抗（由于EMU1 / OFF引脚） 。
- 迟滞输入
- 管脚可以配置为一个通用输入。
- 引脚具有总线保持
- 引脚可配置为通用输出。
的J - 通过在系统中注册HPE位使能内部上拉电阻（ SYSR ）
的K - 通过在系统中注册HPE位使能内部下拉（ SYSR ）
2000年6月 - 修订2004年7月
SPRS076J
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