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SN54ACT8997 ， SN74ACT8997
与4位的识别巴士扫描路径LINKERS
SCAN控制的IEEE标准1149.1 （ JTAG ） TAP CONCATENATORS
SCAS157D - 1990年4月 - 修订1996年12月
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德州仪器成员
范围
家庭可测性产品
兼容IEEE标准
1149.1-1990 （ JTAG ）串行总线测试
让系统扫描路径的分区
可以水平或垂直级联
选择最多四个辅助扫描路径，以
被包括在主扫描路径
包括8位可编程二进制计数器
以计数或启动中断信号
包括4位识别总线为
扫描路径识别
输入是TTL兼容
EPIC
（增强型性能注入
CMOS ） 1微米工艺
封装选择包括塑料
小外形（ DW ）封装，陶瓷
芯片载体（ FK ）和标准塑料
（ NT）和陶瓷（ JT ） 300密耳的DIP
SN54ACT8997 。 。 。 JT包装
SN74ACT8997 。 。 。 DW或NT包装
（ TOP VIEW ）
DCO
MCO
DTDO1
DTDO2
DTDO3
DTDO4
GND
DTMS1
DTMS2
DTMS3
DTMS4
DTCK
TDO
TMS
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
28
27
26
25
24
23
22
21
20
19
18
17
16
15
DCI
MCI
TRST
ID1
ID2
ID3
ID4
V
CC
DTDI1
DTDI2
DTDI3
DTDI4
TDI
TCK
SN54ACT8997 。 。 。 FK包装
（ TOP VIEW ）
描述
在“ ACT8997是德州的成员
SCOPE仪器可测性 integrated-
电路的家庭。该系列组件的方便
测试复杂的电路板组件。
在“ ACT8997增强了TI的扫描功能
SCOPE 系列允许的增强
系统的二次扫描主要扫描路径
路径程序（SSP ），其可以被单独选择
由' ACT8997包含在主扫描
路径。这些器件还提供测试的缓冲
信号，以减少对外部逻辑。
TRST
MCI
DCI
DCO
MCO
DTDO1
DTDO2
5
6
7
8
9
ID1
ID2
ID3
ID4
V
CC
DTDI1
DTDI2
4 3
2 1 28 27 26
25
24
23
22
21
20
10
11
19
12 13 14 15 16 17 18
DTDI3
DTDI4
TDI
TCK
TMS
TDO
DTCK
通过设置适当的值到指令
寄存器和数据寄存器中，用户可以选择向上
到4的SSP被包括在一个主扫描路径。在SSP的任意组合可以同时被选择。任何
的设备的6个数据寄存器或指令寄存器可以被放置在该设备的扫描路径，即，置于
间的测试数据输入（TDI）和测试数据输出（ TDO）用于随后的移位和扫描操作。
该装置除计算所有的操作是同步的测试时钟引脚（ TCK） 。 8位
可编程加/减计数器可以被用来计算在设备条件输入转换（ DCI）销和
通过设备状态输出（ DCO ）引脚输出中断信号。该设备可以被配置为依赖
无论是上升或下降的DCI的边缘。
测试访问端口（ TAP ）控制器是一个符合IEEE 1149.1标准兼容的有限状态机。
该SN54ACT8997的特点是工作在-55 ° C至125°C的整个军用温度范围。
该SN74ACT8997的特点是操作从0℃至70℃。
请注意，一个重要的通知有关可用性，标准保修，并且在关键的应用程序中使用
德州仪器公司的半导体产品和免责条款及其出现在此数据表的末尾。
范围和EPIC是德州仪器的商标。
PRODUCTION数据信息为出版日期。
产品符合每德州仪器条款规范
标准保修。生产加工并不包括
所有测试参数。
邮政信箱655303
达拉斯，德克萨斯州75265
DTDO3
DTDO4
GND
DTMS1
DTMS2
DTMS3
DTMS4
版权
1996年，德州仪器
关于产品符合MIL -PRF- 38535 ，所有参数进行测试
除非另有说明。在所有其他产品，生产
加工不一定包括所有参数进行测试。
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