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c.
小组4 （ CIN和COUT测量） ，应仅在初步认证后的任何程序或进行测量
设计可能影响的输入输出电容的变化。电容应之间进行测量
指定终端和GND在1 MHz的频率。样本量为15台设备没有故障，所有的输入和
输出端进行测试。
对于设备类男，亚组7和8的测试应足以验证真值表。对于设备类Q和V，
子组7和8应当包括验证所述设备的功能;这些测试将被故障分级的
按照MIL -STD -883测试方法5012 （见本文1.5 ） 。
O / V（闭锁）试验应仅在初步认证后，任何设计或工艺变化来衡量这可能
影响器件的性能。对于设备类男，程序和电路应保持在文件
由制造商和修订级别的控制，应提供给筹备活动或收购活动
根据要求提供。设备类Q和V，则程序和电路应是设备的控制下
制造商的TRB符合MIL -PRF- 38535 ，并应提供给筹备活动或
根据要求收购活动。测试应在所有引脚上五台设备零故障。闩锁测试应
考虑破坏性。包含在JEDEC标准的EIA / JESD78信息可以用来作参考。
选择用于测试的所有设备应当具有棋盘图案或等效编程。全部结束后
测试时，装置应被擦除和验证， （除了提交组B，C和D的测试装置） 。
d.
e.
f.
4.4.2 C组检验。 C组检查端点的电气参数应符合表IIA本文规定。
4.4.2.1对设备类M.附加条件
一。稳态寿命试验条件，符合MIL- STD- 883方法1005
(1)
(2)
所选择的用于测试设备应当具有棋盘图案进行编程。所有测试完成后，
该装置应被擦除和验证（除提交D组的测试设备） 。
测试条件D或E的测试电路，由下文件修订级别的制造商保持
控制和要求应提供给准备或收购活动。测试电路应明确
的输入，输出，偏置和功率耗散，如适用，根据在测试中指定的目的
方法1005 。
TA = 125
(
C，最低。
测试时间：1,000小时，如MIL -STD- 883方法1005规定的除外。
(3)
(4)
b.
c.
所有需要终点电气测试设备应与棋盘或同等交替位进行编程
格局。
在完成所有的测试后，该装置将被清除，并在交付之前进行验证。
4.4.2.2其他标准设备类Q和V的稳态寿命试验时间，试验条件和试验温度，
或经批准的方案应为符合MIL -PRF- 38535规定的设备制造商的质量管理计划。该
测试电路应保持由设备制造商的TRB文档修订级别控制下，按照
MIL -PRF- 38535 ，并应要求提供给收购或准备的活动。测试电路应明确
的输入，输出，偏置和功率耗散，如适用，根据在测试方法1005中指定的目的
MIL-STD-883.
4.4.3 D组的检查。 D组检查端点的电气参数应符合表IIA本文规定。
所选择的用于测试设备应当具有棋盘图案进行编程。所有的测试中，设备完成后
须擦除和验证。
SIZE
标准
微电路图纸
哥伦布国防供应中心
美国俄亥俄州哥伦布市43216-5000
DSCC FORM 2234
APR 97
A
修订级别
C
5962-90899
片
21
