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表一，电气性能特点 - 持续。
TEST
符号
条件
-55
C
TC
+125
C 1/
4.5 V
VCC
5.5 V
除非另有说明
A组
亚
设备
TYPE
民
范围
最大
单位
交流特性 - 只读操作 - 续。 （参见图5为适用）。
OUTPUT ENABLE
存取时间
TGLQV
9, 10, 11
01,05
02,06
03,07,10,
11,12
04,08,13
09
所有
0 2/
65
60
55
50
40
ns
ns
芯片使能到
在低Z输出
芯片禁用到
在高Z输出
输出使能到
在低Z输出
输出禁止以
在高Z输出
TELQX
9, 10, 11
TEHQZ
2/
9, 10, 11
所有
55
ns
TGLQX
9, 10, 11
所有
0 2/
ns
TGHQZ
2/
9, 10, 11
01,05
02,06
03,07,10,
11,12
04,08,09,
13
所有
0 2/
60
45
35
30
ns
从输出保持
地址
E，或
C
OE
变化
写恢复
之前的时间阅读
tAXQX
3/
9, 10, 11
ns
tWHGL
9, 10, 11
所有
6.0
s
擦除和编程性能
芯片擦除
芯片计划
排除00H编程
9, 10, 11
所有
所有
60
24
s
s
不包括系统开销4月9日， 10日， 11
1 /箱体温度瞬间上。
2 /参数应进行试验的设备初始特性的一部分，设计和工艺更改后。参数
应保证表我对没有经过专门测试所有批次规定的限值。
3 /以先到为准。
4 /最小字节编程时间不包括系统开销为16微秒（ 10微秒编程6.0微秒写恢复） ，而
最大为400微秒/字节（由算法允许16微秒×25圈） 。规定的最大芯片编程时间降低
比，因为大多数字节的程序比最坏显著更快的编程算法所允许的最坏情况
案例字节。
SIZE
标准
微电路图纸
哥伦布国防供应中心
美国俄亥俄州哥伦布市43216-5000
DSCC FORM 2234
APR 97
A
修订级别
C
5962-90899
片
9
