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PD44165084 ， 44165184 ， 44165364
JTAG指令
说明
EXTEST
描述
EXTEST指令允许外部的部件封装的电路进行测试。 Boundary-
扫描寄存器单元在输出引脚用于施加测试向量，而在输入引脚捕获测试
结果。典型地，使用EXTEST指令施加第一测试矢量将被移入
边界扫描寄存器使用PRELOAD指令。因此，在EXTEST的更新-IR状态，
输出驱动器导通，所述预紧数据被驱动到输出引脚。
IDCODE
IDCODE指令导致ID ROM加载到ID寄存器时，控制器处于
捕捉-DR模式，并将移位-DR模式下， TDI和TDO引脚之间的ID寄存器。该
IDCODE指令是在上电和随时加载默认指令的控制器放置
在测试逻辑复位状态。
绕行
BYPASS指令加载到指令寄存器时，旁路寄存器之间放置
TDI和TDO 。这发生在TAP控制器移动到shift-DR状态。这允许
板水平扫描路径被缩短，以便向其他设备中的扫描路径测试。
SAMPLE / PRELOAD
SAMPLE / PRELOAD是一个标准1149.1强制性的公共教育。
当SAMPLE /
PRELOAD指令加载到指令寄存器，移动TAP控制器进入捕获DR
状态加载在RAM中的输入和Q引脚的数据到边界扫描寄存器。由于RAM
时钟（ S）是独立于TAP时钟（ TCK ）是可能的水龙头试图捕捉
I / O环的内容时，输入缓冲器是转型（即在亚稳态） 。虽然允许
水龙头样品的亚稳态输入也不会损坏器件，可重复的结果无法预料。
RAM的输入信号必须稳定足够长的时间，以满足水龙头输入数据采集设置加
HOLD时间（t
CS
再加吨
CH
） 。公羊时钟输入不需要暂停任何其他TAP的操作除外
捕获的I / O环的内容到边界扫描寄存器。移动控制器Shift-DR状态
然后放置在TDI和TDO引脚之间的边界扫描寄存器。
样品-Z
如果样品-Z指令的指令寄存器加载，所有的RAM Q引脚被强制为无效
驱动状态（高阻抗）和边界寄存器连接TDI和TDO时间
TAP控制器移动到shift-DR状态。
JTAG指令编码
IR2
0
0
0
0
1
1
1
1
IR1
0
0
1
1
0
0
1
1
IR0
0
1
0
1
0
1
0
1
指令
EXTEST
IDCODE
样品-Z
版权所有
SAMPLE / PRELOAD
版权所有
版权所有
绕行
1
记
注： 1 。
TRISTATE所有Q引脚和捕捉垫值转换为串行扫描锁存器。
22
数据表M15825EJ7V1DS
